GX51

현미경 솔루션

OLYMPUS GX51 도립형 현미경은 고배율에서 높은 안정성과 함께 선명한 고분해능의 이미지를 제공합니다. 다양한 용도의 액세서리뿐만 아니라 디지털 카메라와 소프트웨어 솔루션을 제공합니다.

• 인체공학적 그리고 효율성
• 뛰어난 이미지 선명도와 해상도
• 소프트웨어 솔루션
• Accessories

인체공학적 그리고 효율성

 쉽고 편리한 동작

GX51은 명시야,암시야,DIC, 간이편광 관찰이 가능한 모델입니다. 인체공학으로 효율성있게 명시야와 암시야의 변경이 쉽고 간편합니다. 많은 수의 샘플을 검사할 때, 전면부에 위치한 컨트롤부를 통해 쉽고 편리하게 사용자가 사용할 수 있습니다.

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전동기능으로 효율성 증대

분석을 필요로 하는 크고 많은 양의 샘플들을 전동 유닛들을 전동 유닛들을 통하여 시간 및 비용을 절약할 수 있습니다.
간단한 핸드셋을 통해 렌즈의 선택을 빠르고 쉽게 할 수 있습니다. 더 높은 수준의 분석과 속도향상을 위해서 Stream 이미지 분석 전 용 소프트웨어를 사용하시면 자동 스테이지 및 전동필터 등의 추가적인 유닛들을 컨트롤 할 수 있습니다.

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뛰어난 이미지 선명도와 해상도

우수한 이미지 성능을 위한 다양한 기능 선택

UIS2 광학계는 명시야, 암시야, 미분간섭, 편광, 형광의 모든 관찰 방법에서 밝고, 선명하며, 고해상도의 이미지를 보여줍니다.
색상 충실도를 위해 특별한 코팅과 웨이브 프론트 수차 컨트롤 기술로 설계되어 UIS2 광학계 이미지는 높은 해상도를 보장합니다.

소프트웨어 솔루션

손쉬운 작업을 위한 디지털 카메라와 이미지 분석 소프트웨어

고급 OLYMPUS 이미지 분석 소프트웨어는 고해상도 관찰과 빠른 이미지 전송기능을 갖춘 OLYMPUS의 모든 디지털 카메라와 함께 현재의 가장 복잡한 금속공학의 요구 사항을 위해 모든 도구를 제공하여 사용자에게 힘을 실어줍니다.
기본 금속학 및 고급 금속학 어플리케이션의 특정 모듈( 특별 분야별로 12개가 넘는 어플리케이션)과 가장 널리 쓰이는 ASTM 과 ISO 규격과 함께 마우스 클릭 몇 번만으로 자동으로 데이터를 전송하고 보고서를 생성합니다.

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Accessories

Intermediate Modules 

정면에 카메라를 결합하여 사용할 뿐만 아니라, IX-ATU 혹은 GX-SPU 사이드 포트 의 유닛을 통해 추가적인 카메라 장치를 사용할 수 있습니다.

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투과 조명기

투과 조명기는 현미경 바디의 후면에 장착되어 사용되며, 투명한 샘플이나 파우더의 관찰에 유용합니다.

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GX41

현미경 솔루션

OLYMPUS GX41 도립형 금속 현미경은 컴팩트하고 무게가 가벼운 소형 디자인으로 이동이 편리하며 사용하기가 간편합니다. 손쉽고 빠르게 어디서든 원하시는 장소에서 다양한 금속샘플을 관찰하는데 효율적입니다.

• 이동성과 인체공학적
• 명시야와 편광에서의 우수한 분해능과 선명한 이미지
• 소프트웨어 솔루션

이동성과 인체공학적

 모바일 시스템은 어디에서든지 현장 검사를 지원

컴팩트한 바디는 공간제약이 있는 장소에도 설치가 가능하며 현장검사가 필요한 연구실이나 생산라인에도 유용하게 사용할 수 있습니다.

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인체공학적 시점 조정

각도 조절이 가능한 2안 관찰 튜브는 GX41 사용자들이 서있거나 앉아있을때 모두 편안한 환경에서 작업을 할 수 있게 해줍니다.

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명시야와 편광에서의 우수한 분해능과 선명한 이미지

모든 배율에서의 선명하고 밝은 관찰

전체 보이는 영역(F.N.22)을 높은 선명도로 관찰할 수 있고 검사의 효율성을 향상시켜준 UIS2-무한보정광학기술에 감사드립니다. 렌즈의 배율은 5배에서 100배까지, 명시야와 간이편광 관찰을 지원합니다.

관찰 이미지 예

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조명 시스템

일반적으로 쓰이는 6V30W 할로겐 광원에 추가하여 100W의 광섬섬유 광원은 반사도가 낮은 샘플에서도 밝게 보입니다.

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소프트웨어 솔루션

고급 OLYMPUS 이미지 분석 소프트웨어는 고해상도 관찰과 빠른 이미지 전송기능을 갖춘 OLYMPUS의 모든 디지털 카메라와 함께 현재의 가장 복잡한 금속공학의 요구 사항을 위해 모든 도구를 제공하여 사용자에게 힘을 실어줍니다.
기본 금속학 및 고급 금속학 어플리케이션의 특정 모듈( 특별 분야별로 12개가 넘는 어플리케이션)과 가장 널리 쓰이는 ASTM 과 ISO 규격과 함께 마우스 클릭 몇 번만으로 자동으로 데이터를 전송하고 보고서를 생성합니다.

• 인체공학적 & 효율성
• 뛰어난 이미지 선명도와 우수한 분해능
• 소프트웨어 솔루션
• 다양한 관찰방법을 지원하는 악세서리

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인체공학적 & 효율성

 Frontal Centralized Operation

MX51 컨트롤 하는 부분이 현미경의 정면에 위치하고 있어 사용자가 접촉하고 조종하기 쉽습니다. 클러치가 포함된 150mm 스테이지는 빠르게 위치 설정이 가능하며 사용자의 피로도를 줄여줍니다.

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전동 Revolving Nosepiece

MX51은 표준 수동타입의 Nosepieces 뿐만 아니라, 전동타입의 Nosepieces 도 장착이 가능합니다. 전동 Nosepieces는 렌즈를 빠르게 교체할 수 있으며 샘플에 발생할 수 있는 잠재적인 오염의 발생 가능성을 줄여줍니다. Nosepiece 컨트롤러는 OLYMPUS Stream과 연동하여 이미지를 획득할 때 자동적으로 대물렌즈의 배율을 저장하여 작업의 신뢰도를 높여줍니다.

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뛰어난 이미지 선명도와 우수한 분해능

우수한 이미지 성능을 위한 다양한 선택

렌즈는 광학 현미경의 핵심 부품이며 재료 샘플의 관찰과 조명을 위해 사용되어 집니다. OLYMPUS는 모든 관찰법에 적합한 범용적인 렌즈, Working Distance(샘플과의 거리)가 길거나 매우 긴 렌즈, 근적외선 렌즈, LCD 전용 검사용 렌즈 등 다양한 종류의 렌즈를 갖추고 있습니다.

관찰 이미지 예

사용목적에 따라 다양한 렌즈의 선택
MPLAPON	Semi Apochromat Objective Lens Series (명시야)
MPLFLN	Semi Apochromat Objective Lens Series ( 명시야, 암시야 )
MPLFLN-BD	Semi Apochromat Objective Lens Series ( 명시야, 암시야, 편광 )
MPLFLN-BDP	Semi Apochromat Objective Lens Series ( 명시야, 암시야, 편광 )
LMPLFLN	Long WD Semi Apochromat Objective Lens Series ( 명시야 )
LMPLFLN-BD	Long WD Semi Apochromat Objective Lens Series ( 명시야, 암시야 )
MPLN	Plan Achromat Objective Lens Series ( 명시야 )
MPLN-BD	Plan Achromat Objective Lens Series ( 명시야, 암시야 )
SLMPLN	Super Long WD Plan Achromat Objective Lens Series
LCPLFLN-LCD	Long WD Semi Apocromatic Objective Lens Series ( LCD전용 )

-> UIS2 대물렌즈에 관한 상세한 설명(click)

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소프트웨어 솔루션

디지털 영상, 이미지 분석과 데이타베이스 관리

OLYMPUS는 소프트웨어 뿐만 아니라 다양한 종류의 디지털 카메라와 함께 광범위한 영상과 분석솔루션을 제공합니다. 가장 최신버젼의 고급 소프트웨어는 MX61L/MX61과 통합되어 이미지 획득, 이미지 처리, 측정 기능, 통계 결과, 주석, 보관, 리포트 생성과 데이타 관리와 같은 업무 수행에 필수적인 기능을 제공하며 추가적으로 Secure File Repository를 제공하여 보안을 강화할 수 있습니다.

->디지털 카메라 종류 (click) : 추후 제이엔옵틱 제품으로 수정

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다양한 관찰방법을 지원하는 악세서리

근적외석(IR) 광학과 영상

특별히 고안된 IR 객관 렌즈 및 부품 실리콘과 유리의
표면 아래 영상 기능과 결함에 이상적입니다.반도체 및 태양광 산업 정렬에 대한 IR 영상, 하위 표면 오염 및 중요 치수 검사의 신분을 사용합니다.20x, 50x 및 100x 목표는 전반적인 대비를 향상, 실리콘과 유리의 두께로 인한 aberrations에 대한 해결 정정 칼라로 설계되었습니다. 가까운 적외선 영상 및 분석을위한 올림푸스 supportsseveral IR 디지털 카메라.
특별히 고안된 IR 대물렌즈와 부품들은 실리콘와 유리 표면 아래(내부)에 있는 결함의 발견과 영상 기능에 이상적입니다. 반도체 및 태양광 산업에서 중요 치수 검사나 하위-표면 오염정도의 식별을 위해 IR 기능을 사용합니다. 20배,50배,100배 렌즈는 전체적으로 contrast를 향상시켰고 실리콘과 유리 두께에 따라 발생하는 aberrations을 해결하기 위해 correction collar(보정환)를 가지고 있습니다. OLYMPUS는 근적외선 영상과 분석을 위한 IR 디지털 카메라도 지원합니다.

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형광 관찰

MX51은 높은 강도의 광원과 미러 큐브를 추가하여 형광관찰을 할 수 있습니다. 형광관찰은 resist residuals 와 유기 입자 등의 샘플을 쉽게 검출하는데 유용합니다.

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투과 조명모듈

투과 조명은 MX51에 결합되어 포토마스크나 평판디스플레이 검사에 사용할 수 있습니다. 두 가지 콘덴서 타입이 있으며, 첫 번째 타입 MX-TILLA는 범용적인 용도로 사용되며, 두 번째 타입 MX-TILLB는 높은 개구수(N.A)를 갖고 있습니다. 두 가지 타입 모두 간이편광을 지원합니다.

OLS4100 Application

• 반도체/FPD
• 전자 부품 / MEMS
• 재료/금속 가공

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반도체/FPD(Flat Panel Display)

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전자 부품 / MEMS (미세 전자 기계 시스템)

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재료/금속 가공

With the Olympus LEXT OLS4100 laser scanning digital microscope non-contact 3D observations and measurements of surface features at 10 nanometer resolutions are easy to produce. The OLS4100 industrial microscope has distinctive features for fast image acquisition and high-resolution microscope images over a wider area.

• 뛰어난 측정 성능
• 세계 최초* 두개의 성능 보증
• 고품질 이미지
• 더 쉽게, 더 빠르게, 더 광범위하게.

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뛰어난 측정 성능

넓은 샘플 범위

85°이상의 경사도 이미지

OLS4100은 높은 N.A값을 갖는 전용 대물 렌즈와 405nm 레이저의 성능을 극대화 시킨 광학 시스템에 의해서 기존에 측정 불가능했던 급경사면의 이미지를 손쉽게 취득할 수 있습니다.

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10nm의 높이 분해능을 가진 마이크로 프로파일 측정

405nm의 단파장 레이저 빛과 높은 N.A의 전용 대물 렌즈를 사용하여 최대 0.12μm의 평면 분해능을 실현. 샘플 표면의 서브 마이크론 측정이 가능합니다. 또한 고정밀 리니어 스케일과 IZ 커브를 이용한 CFO 검색 (23 페이지 참조)를 채택하여 10nm 이하의 높이 차이를 감지 할 수 있습니다.

 

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반사율 차이에도 대응

OLS4100은 2개의 공초첨 광학 시스템을 탑재한 듀얼 컨포칼 시스템을 사용합니다. 고감도 디텍터(검출기)와 결합하여 서로 다른 반사율을 갖는 샘플에서도 선명한 이미지 구현이 가능합니다.

 

 

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멀티 레이어기능으로 투명한 물체의 측정에 대응

멀티 레이어 모드
OLS4100에 추가 된 멀티 레이어 기능은 여러 레이어 (층)의 반사광 강도의 피크를 인식하여 각 층의 두께를 측정할 수 있습니다.

투명 소재의 멀티 레이어 관찰/측정
멀티 레이어 기능을 사용하면 투명 샘플의 윗 표면에 있는 투명 필름의 관찰과 측정이 가능합니다. 레진이 코팅 되어 있는 샘플에서도 투명체 각 층의 거칠기와 두께의 측정도 가능합니다.

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세계 최초* 두개의 성능 보증

정확도와 반복성

측정 기기로서의 성능은 두 개의 다른 용어로 표현됩니다. 그것은 ‘정확도’과 ‘반복성’입니다. “정확도”는 참값에 얼마나 접근하고 있는지를 나타내고 “반복성”은 여러 번 측정에서 얼마나 변동이 적은가 여부를 나타내는 것입니다. OLS4100은 레이저 현미경으로 업계 최초로 *이 두 성능을 보증합니다.

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보증 체계 시스템

OLS4100은 모든 부품이 엄격한 시스템 아래 하에 제조되고 있습니다. 대물 렌즈부터 본체까지 자사 공장에서 일관 생산하고 엄격한 검사 기준을 거쳐 출하됩니다. 최종 조정과 교정은 실제로 사용되는 환경에서 전문 기술자가 수행합니다.

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넓은 범위의 측정 타입

단차 측정

표면 거칠기 측정

면적/부피 측정

입자 측정(옵션)

기하학적 측정

필름 두께 측정(옵션)

자동 에지 검출/측정(옵션)

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OLYMPUS Stream (옵션)

향상된 이미지 분석 성능을 위한 업무개선 솔루션
소프트웨어 “Olympus Stream”(옵션)에서는 입자 크기 분석 및 비금속 함유율 등이 가능하고 OLS4100으로 부터 바로 연동이 가능합니다.

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더욱 더 진화된 거칠기 측정

LEXT OLS4100 파라미터

OLS4100은 표면 거칠기 측정기의 새로운 기준을 목표로 개발되었습니다. 필요한 대부분의 거칠기 파라미터 필터를 보유하고 있습니다. 그렇기 때문에 기존의 접촉식 표면 거칠기 측정기를 사용하는 사용자는 기존의 장비와 일치한 출력 결과를 얻을 수 있습니다..
또한 OLS4100은 거칠기 전용 모드가 있어 자동 라인 스티치로 최대 100mm까지 거칠기 측정이 가능합니다. OLS4100은 접촉식 표면 거칠기 측정기와 같은 거칠기 (2 차원) 파라미터를 보유하고 있습니다. 접촉식 표면 거칠기 측정기와 같은 조작성, 호환 측정 결과를 얻을 수 있습니다.

기본 프로파일	Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr
거칠기 프로파일	Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75
파형 프로파일	Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr
베어링 영역 커브	Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2
모티브	R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte
거칠기 프로파일 (JIS 1994)	Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp
기타	R3z, P3z, PeakCount

Example Configurations for Materials Science and Industry

BX53M Reflected and Reflected/Transmitted Light Combination

There are two types of microscope frames in the BX3M series, one for reflected light only and one for both reflected and transmitted light. Both frames can be configured with manual, coded, or motorized components. The frames are outfitted with ESD capability to protect electronic samples.

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BX53M IR Combination

 

IR objectives can be used for semiconductor inspection, measurement, and processing applications where imaging through silicon is required to see the pattern. 5X to 100X infrared (IR) objectives are available with chromatic aberration correction from visible light wavelengths through the near infrared. For highmagnification work, rotating the correction collar of the LCPLNIR series of lenses corrects for aberrations caused by sample thickness. A clear image is obtained with a single objective.

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BX53M Polarized Light Combination

The optics of the BX53M polarized light combination provide geologists with the right tools for high-contrast polarized light imaging. Applications such as mineral identification, investigating the optical characteristics of crystals, and observing solid rock sections benefit from system stability and precise optical alignment.

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Bertrand Lens for conoscopic and orthoscopic observations

With a U-CPA conoscopic observation attachment, switching between orthoscopic and conoscopic observation is simple and fast. It is focusable for clear back focal plane interference patterns. The Bertrand field stop makes it possible to obtain consistently sharp and clear conoscopic images.

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An Extensive Range of Compensator and Wave Plates

Six different compensators are available for measurements of birefringence in rock and mineral thin sections. Measurement retardation level ranges from 0 to 20λ. For easier measurement and high image contrast, the Berek and Senarmont compensators can be used, which change the retardation level in the entire field of view.

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Measuring range of compensators

ompensator	Measuring Range	Major Application
Thick Berek(U-CTB)	0-11,000 nm (20λ)	Measurement of High Retardation Level (R*>3λ), (crystals, macromolecules, fiber, etc.)
Berek(U-CBE)	0-1,640 nm (3λ)	Measurement of Retardation Level (crystals, macromolecules, living organisms, etc.)
SenarmontCompensator(U-CSE)	0-546 nm (1λ)	Measurement of Retardation Level (crystals, living organisms, etc.) Enhancement of Image Contrast (living organisms, etc.)
Brace-Koehler Compensator 1/10λ (U-CBR1)	0-55 nm (1/10λ)	Measurement of Low Retardation Level (living organisms, etc.) Enhancement of Image Contrast (living organisms, etc.)
Brace-Koehler Compensator 1/30λ (U-CBE2)	0-20 nm (1/30λ)	Measurement of image contrast (living organisms, etc.)
Quartz Wedge(U-CWE2)	500-2,200 nm (4λ)	Approximate Measurement of Retardation Level (crystal, macromolecules, etc.)

*R = retardation level

For more accurate measurement, it is recommended that compensators (except U-CWE2) be used together with the interference filter 45-IF546.

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Strain Free Optics

Thanks to Olympus’ sophisticated design and manufacturing technology, the UPLFLN-P strainfree objectives reduce internal strain to the minimum. This means a higher EF value, resulting in excellent image contrast.

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BXFM System

The BXFM can be adapted to special applications or integrated into other instruments. The modular construction provides for straightforward adaptation to unique environments and configurations with a variety of special small illuminators and fixturing mounts.

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Modular Design, Build Your System Your Way

Microscope Frames

There are two microscope frames for reflected light, one also has transmitted Light; capability. An adapter is available to raise the illuminator to accommodate taller samples.

 

■: Possible		Reflected light	Transmitted light	Sample height
1	BX53MRF-S	■		0-65 mm
2	BX53MTRF-S	■	■	0-35 mm
3	BX3M-ARMAD	■	■	+40 mm

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Stands

For microscopy applications where the sample will not fit on a stage, the illuminator and optics can be mounted to a larger stand or to another piece of equipment.

 

 

BXFM + BX53M illuminator configuration

1	BXFM-F	Frame interface is wall mounting/32 mm pillar
2	BX3M-ILH	Illuminator holder
3	BXFM-ILHSPU	Counter spring for BXFM
6	SZ-STL	Large stand

Unit Combination Required: (1, 2 and 6)
Option: 3

BXFM + U-KMAS illuminator configuration

1	BXFM-F	Frame interface is wall mounting/32 mm pillar
4	BXFM-ILHS	U-KMAS holder
5	U-ST	Stand
6	SZ-STL	Large stand

Unit Combination Required: (1, 4 and 5) or (1, 4 and 6)
Option: –

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Tubes

For microscope imaging with eyepieces or for camera observation, select tubes by imaging type and operator’s posture during observation.

		FN	Type	Angle type	Image	Number of diopter  adjustment mechanisms
1	U-BI30-2	22	Binocular	Fixing	Reverse	1
2	U-TBI-3	22	Binocular	Tilting	Reverse	1
3	U-TR30-2	22	Trinocular	Fixing	Reverse	1
4	U-TR30IR	22	Trinocular for IR	Fixing	Reverse	2
5	U-ETR-4	22	Trinocular	Fixing	Erect	2
6	U-TTR-2	22	Trinocular	Tilting	Reverse	2
7	U-SWTR-3	26.5	Trinocular	Fixing	Reverse	2
8	U-SWETTR-5	26.5	Trinocular	Tilting	Erect	2
9	U-TLU	22	Single port	–	–	–
10	U-TLUIR	22	Single port for IR	–	–	–

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Illuminators

The illuminator projects light onto the sample based on the observation method selected. Software interfaces with coded illuminators to read the cube position and automatically recognize the observation method.

 

■: Possible		Coded function	Light source	BF	DF	DIC	POL	IR	FL	MIX	AS /FS
1	BX3M-RLAS-S	Fixed 3 cube position	LED – Built in	■	■	■	■	–	–	■	■
2	BX3M-URAS-S	Attachable 4 cube position	LED	■	■	■	■	–	–	■	■
			Halogen	■	■	■	■	■	–	■	■
			Mercury /Light guide	■	■	■	■	–	■	■	■
3	BX3M-RLA-S		LED	■	■	■	■	–	–	■	■
			Halogen	■	■	■	■	■	–	■	■
4	BX3M-KMA-S		LED – Built in	■	–	■	■	–	–	■	–
5	BX3-ARM	Mechanical arm for transmitted light		–	–	–	–	–	–	–	–
6	U-KMAS		LED	■	–	■	■	–	–	■	–
			Halogen	■	–	■	■	■	–	■	–

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Light Sources

Light sources and power supplies for sample illumination, choose the appropriate light source for the observation method.

 

 

Standard LED light resource configuration

1	BX3M-LEDR	LED lamp housing for reflected light
2	U-RCV	DF converter for BX3M-URAS-S, required for observation with DF and BF when necessary
3	BX3M-PSLED	Power supply for LED lamp housing, requires BXFM system
4	BX3M-LEDT	LED lamp housing for transmitted light

Unit Combination Required: (1 and 3) or 4^*1
Option: 2
*1：Only using BX53MTRF-frame

Fluorescence standard light resource configuration

5	U-LLGAD	Light guide adapter
2	U-RCV	DF converter for BX3M-URAS-S, required for observation with DF and BF when necessary
6, 7	U-LLG150 (300)	Light guide, length:1.5 m (3 m)
8	U-HGLGPS	Light source for fluorescence

Unit Combination Required: (5, 6 and 8) or (5, 7 and 8)
Option: 2

Fluorescence mercury light resource configuration

9, 10	U-LH100HG(HGAPO)	Mercury lamp housing for fluorescence
2	U-RCV	DF converter for BX3M-URAS-S, required for observation with DF and BF when necessary
11	U-RFL-T	Power supply for 100W mercury lamp

Unit Combination Required: (9 and 11) or (10 and 11)
Option: 2

Halogen and Halogen IR light resource configuration

12	U-LH100L-3	Halogen lamp housing
13	U-LH100IR	Halogen lamp housing for IR
14	U-RMT	Extender cable for halogen lamp housing, cable length 1.7 m (requires cable extension when necessary)
15, 16	TH4-100 (200)	100V (200V) specification power supply for 100W/50W halogen lamp
17	TH4-HS	Hand switch for light intensity of halogen (dimmer TH4-100 (200) without hand switch)

Unit Combination Required: (12 and 15) or (12 and 16) or (13 and 15) or (13 and 16)
Option: 14, 17

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Nosepieces

Attachment for objectives and sliders. Select by the number of objectives needed and types; also with/without slider attachment.

 

 

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Sliders

Select the slider to compliment traditional brighfield observation. The DIC slider provides topographic information about the sample with options to maximize contrast or resolution. The MIX slider provides illumination flexibility with a segmented LED source in the darkfield path.

		Type	Amount of shear	Available objectives
1	U-DICR	Standard	Medium	MPLFLN, MPLAPON, LMPLFLN, and LCPLFLN-LCD
2	U-DICRH	Resolution	Small	MPLFLN, MPLAPON
3	U-DICRHC	Contrast	Large	LMPLFLN and LCPLFLN-LCD

MIX slider for MIX observation.

		Type	Available objectives
4	U-MIXR	MIX slider	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD

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Controls Box and Hand Switches

Control boxes for interfacing microscope hardware with a PC and hand switches for hardware display and control.

 

 

BX3M-CB (CBFM) configuration

1	BX3M-CB	Control box for BX53M system
2	BX3M-CBFM	Control box for BXFM system
3	BX3M-HS	MIX observation control, indicator of coded hardware, programmable function button of software (Stream)
4	BX3M-HSRE	Motorized nosepiece rotation
5	U-HSEXP	Shutter operation of camera

Unit Combination Required: 1 or 2
Option: 3, 4, 5

U-CBS configuration

6	U-CBS	Control box for coded functions in BXFM configuration
5	U-HSEXP	Shutter operation of camera

Unit Combination Required: 6
Option:  5

 Cable

–	U-MIXRCBL (ECBL)	U-MIXR cable, cable length: 0.5 m (2.9 m)
	BX3M-RMCBL (ECBL)	Motorized nosepiece cable, cable length: 0.2 m (2.9 m)

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Stages

Stages and stage plates for sample placement. Select based on sample shape and size.

 

 

150 mm × 100 mm stage configuration

 

 

■: Possible		FN	Diopter adjustment mechanism	Built-in cross reticle
1	WHN10x	22
2	WHN10x-H	22	■
3	CROSS WHN10x	22	■	■
4	SWH10x-H	26.5	■
5	CROSS SWH10x	26.5	■	■

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Optical Filters

Optics filters convert sample exposure light to various types of illumination. Select the appropriate filter for observation requirements.

 

 

 

 

1	U-AC2	Abbe condenser (available from 5x objectives)
2	U-SC3	Swing-out condenser (available from 1.25x objectives)
3	U-LWCD	Long working distance condenser for glass plate (U-MSSPG, U-SPG64)
4	U-POC-2	Swing-out condenser for POL

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Mirror Units

Mirror unit for BX3M-URAS-S. Select the unit for required observation.

 

 

1	U-FBF	For BF, detachable ND filter
2	U-FDF	For DF
3	U-FDICR	For POL, crossed nicol position is fixed
4	U-FBFL	For BF, built-in ND filter (It is necessary to use both BF* and FL) *For coaxial episcopic illumination only
5	U-FWUS	For Ultra Violet-FL BP330-385 BA420 DM400
6	U-FWBS	For Blue-FL BP460-490 BA520IF DM500
7	U-FWGS	For Green FL BP510-550 BA590 DM570
8	U-FF	Empty mirror unit, Used user’s optical element

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Intermediate Tubes

Various types of accessories for multiple purposes. For use between tube and illuminator.

 

 

1	U-CA	Magnification changer (1x, 1.25x, 1.6x, 2x)
2	U-ECA	Magnification changer (1x, 2x)
3	U-EPA2	Eye point adjuster: + 30 mm
4	U-DP	Dual port for U-DP1xC
5	U-DP1xC	C-mount TV camera adapter for U-DP
6	U-TRU	Trinocular intermediate unit

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UIS2 Objectives

Objectives magnify the sample. Select the objective that matches the working distance, resolving power and observation method for the application.

> Click here for details about UIS2 objective lenses

A History of Leading-edge Optics

Superior Optical Performance： Wave Front Aberration Control

When using a microscope for advanced research or system integration, optical performance must be standardized for all objectives. Olympus’ UIS2 objectives go beyond conventional numerical aperture (NA) and working distance (WD) performance standards by providing wave front aberration control, that minimizes the aberrations that lower resolution.

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Stable Color Temperature and High-Intensity White LED Illumination

The BX3M utilizes a high-intensity white LED light sources for both reflected and transmitted light. The LED maintains a consistent color temperature regardless of intensity. LEDs provide efficient, long-life illumination that is ideal for inspecting materials science applications.

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Superior Quality for Advanced Performance

Support Precise Measurement： Auto Calibration

Similar to digital microscopes, automatic calibration is available when using OLYMPUS Stream. Auto-calibration eliminates human variability in the calibration process leading to more reliable measurements. Auto calibration uses an algorithm that automatically calculates the correct calibration from an average of multiple measurement points. This minimizes variance introduced by different operators and maintains consistent accuracy, improving reliability for regular verification.

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Seamless Stitching : Image Shading Correction

Shading correction is implemented within OLYMPUS Stream software to accommodate for shading around the corners of an image. When used with intensity threshold settings, shading correction provides more precise analysis. Additionally, a more uniform panoramic image is acquired when tiling images with MIA.

• Left image: Raw image illustrating shading where images were stitched together
• Right image: Shading correction produces even illumination across the field of view

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