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OLS4100 Application

OLS4100 Application

  • 반도체/FPD
  • 전자 부품 / MEMS
  • 재료/금속 가공

반도체/FPD(Flat Panel Display)

웨이퍼 범프
(대물 렌즈 100x/ 광학 줌 1.5x/스캐닝 영역 85 μm x 85 μm)
도광판
(대물 렌즈 50x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 256 μm x 256 μm)
칩 패드
(대물 렌즈 50x/ 광학 줌 2x/스캐닝 영역 128 μm x 128 μm)
도광판 위의 레이저 점
(대물 렌즈 100x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 128 μm x 128 μm)

전자 부품 / MEMS (미세 전자 기계 시스템)

포토 마스크
(대물 렌즈 20x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 640 μm x 640 μm)
샘플 제공 : 코시부 정밀
마이크로 렌즈
(대물 렌즈 100x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 128 μm x 128 μm)
PCB 커넥터
(대물 렌즈 50x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 256 μm x 256 μm)
MEMS
(대물 렌즈 20x/ 광학 줌 1.3x/스캐닝 영역 483 μm x 483 μm)

재료/금속 가공

다이아몬드 전기 공구
(대물 렌즈 50x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 256 μm x 256 μm)
탄소
(대물 렌즈 렌즈 100x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 128 μm x 128 μm)
얇은 파이프
(대물 렌즈 렌즈 100x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 128 μm x 128 μm)
접착 테이프
(대물 렌즈 50x/ 광학 줌 2x/스캐닝 영역 128 μm x 128 μm)
샌드 페이퍼 #400 (3D)
(대물 렌즈 20x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 640 μm x 640 μm)
대물 렌즈 20x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 640 μm x 640 μm)
고밀도 구조(3D)
(대물 렌즈 20x/ 광학 줌 1x/스캐닝 영역 640 μm x 640 μm)

OLS4100

With the Olympus LEXT OLS4100 laser scanning digital microscope non-contact 3D observations and measurements of surface features at 10 nanometer resolutions are easy to produce. The OLS4100 industrial microscope has distinctive features for fast image acquisition and high-resolution microscope images over a wider area.

  • 뛰어난 측정 성능
  • 세계 최초* 두개의 성능 보증
  • 고품질 이미지
  • 더 쉽게, 더 빠르게, 더 광범위하게.

뛰어난 측정 성능

넓은 샘플 범위

85°이상의 경사도 이미지

OLS4100은 높은 N.A값을 갖는 전용 대물 렌즈와 405nm 레이저의 성능을 극대화 시킨 광학 시스템에 의해서 기존에 측정 불가능했던 급경사면의 이미지를 손쉽게 취득할 수 있습니다.

수차를 최소화한 전용렌즈

10nm의 높이 분해능을 가진 마이크로 프로파일 측정

(대물 렌즈 : MPLAPON50XLEXT)
STEP 높이 표준 B 타입, PTB-5, 독일, 마이크로 전자 연구소 6nm 단차를 감지

405nm의 단파장 레이저 빛과 높은 N.A의 전용 대물 렌즈를 사용하여 최대 0.12μm의 평면 분해능을 실현. 샘플 표면의 서브 마이크론 측정이 가능합니다. 또한 고정밀 리니어 스케일과 IZ 커브를 이용한 CFO 검색 (23 페이지 참조)를 채택하여 10nm 이하의 높이 차이를 감지 할 수 있습니다.

 


반사율 차이에도 대응

다이아몬드 전기 공구
대물 렌즈 : MPlanApoN50xLEXT

OLS4100은 2개의 공초첨 광학 시스템을 탑재한 듀얼 컨포칼 시스템을 사용합니다. 고감도 디텍터(검출기)와 결합하여 서로 다른 반사율을 갖는 샘플에서도 선명한 이미지 구현이 가능합니다.

 

 


멀티 레이어기능으로 투명한 물체의 측정에 대응

멀티 레이어 모드
OLS4100에 추가 된 멀티 레이어 기능은 여러 레이어 (층)의 반사광 강도의 피크를 인식하여 각 층의 두께를 측정할 수 있습니다.

투명 소재의 멀티 레이어 관찰/측정
멀티 레이어 기능을 사용하면 투명 샘플의 윗 표면에 있는 투명 필름의 관찰과 측정이 가능합니다. 레진이 코팅 되어 있는 샘플에서도 투명체 각 층의 거칠기와 두께의 측정도 가능합니다.


세계 최초* 두개의 성능 보증

정확도와 반복성

측정 기기로서의 성능은 두 개의 다른 용어로 표현됩니다. 그것은 ‘정확도’과 ‘반복성’입니다. “정확도”는 참값에 얼마나 접근하고 있는지를 나타내고 “반복성”은 여러 번 측정에서 얼마나 변동이 적은가 여부를 나타내는 것입니다. OLS4100은 레이저 현미경으로 업계 최초로 *이 두 성능을 보증합니다.


보증 체계 시스템

OLS4100은 모든 부품이 엄격한 시스템 아래 하에 제조되고 있습니다. 대물 렌즈부터 본체까지 자사 공장에서 일관 생산하고 엄격한 검사 기준을 거쳐 출하됩니다. 최종 조정과 교정은 실제로 사용되는 환경에서 전문 기술자가 수행합니다.


넓은 범위의 측정 타입

단차 측정

이 모드는 단면 프로파일에서 임의의 두 점 사이의 단차를 측정 할 수 있습니다.

표면 거칠기 측정

이 모드는 한 라인의 선 거칠기, 표면 전체의 거칠기 측정이 가능합니다.

면적/부피 측정

단면 프로파일에서 임의의 임계 값을 설정하여 그 상부 또는 하부의 체적을 측정 할 수 있습니다.

입자 측정(옵션)

이 모드는 임계 값 레벨의 설정, 그리고 관심 영역 내에서 감지 범위의 설정 및 분리 기능을 가진 입자의 자동 분리를 할 수 있습니다.

기하학적 측정

이 모드는 이미지상의 임의의 두 점 사이의 거리를 측정 할 수 있습니다. 원형, 사각형 등의 기하학적 모양과 각도를 측정합니다.

필름 두께 측정(옵션)

이 모드는 굴절율의 변화를 감지하여 투명 필름의 두께를 측정 할 수 있습니다.

자동 에지 검출/측정(옵션)

이미지의 가장자리를 자동으로 감지하여 선폭 · 원의 측정을 할 수 있습니다. 사용자에 의한 측정 오차를 줄일 수 있습니다.

OLYMPUS Stream (옵션)

향상된 이미지 분석 성능을 위한 업무개선 솔루션
소프트웨어 “Olympus Stream”(옵션)에서는 입자 크기 분석 및 비금속 함유율 등이 가능하고 OLS4100으로 부터 바로 연동이 가능합니다.


더욱 더 진화된 거칠기 측정

LEXT OLS4100 파라미터

OLS4100은 표면 거칠기 측정기의 새로운 기준을 목표로 개발되었습니다. 필요한 대부분의 거칠기 파라미터 필터를 보유하고 있습니다. 그렇기 때문에 기존의 접촉식 표면 거칠기 측정기를 사용하는 사용자는 기존의 장비와 일치한 출력 결과를 얻을 수 있습니다..
또한 OLS4100은 거칠기 전용 모드가 있어 자동 라인 스티치로 최대 100mm까지 거칠기 측정이 가능합니다. OLS4100은 접촉식 표면 거칠기 측정기와 같은 거칠기 (2 차원) 파라미터를 보유하고 있습니다. 접촉식 표면 거칠기 측정기와 같은 조작성, 호환 측정 결과를 얻을 수 있습니다.

기본 프로파일 Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr
거칠기 프로파일 Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75
파형 프로파일 Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr
베어링 영역 커브 Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2
모티브 R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte
거칠기 프로파일 (JIS 1994)   Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp
기타 R3z, P3z, PeakCount
차세대 파라미터에 대응
OLS4100은 ISO25178 규격 거칠기 (3 차원) 파라미터를 보유하고 있습니다. 평면 영역에서 평가를 실시하는 것으로, 높은 신뢰성이 있는 분석이 가능합니다.
진폭 파라미터 Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa
기능 파라미터 Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp
체적 파라미터 Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc
평면 파라미터 Sal, Str
LEXT OLS4100은 표면 거칠기 측정기의 결과와 호환성을 가지고 있습니다.

마이크로 거칠기

접촉식 표면 거칠기 측정기는 스타일러스의 팁 지름보다 작은 마이크로 표면을 측정 할 수 없습니다. 레이저 현미경은 레이저 스폿 직경이 미세하기 때문에 미세형상을 높은 분해능으로 거칠기 측정 할 수 있습니다.


비 접촉 측정

접촉식 표면 거칠기 측정기는 스타일러스에 의해 부드러운 샘플의 표면을 긁어 손상시키거나 변형시킬 가능성이 높습니다. 또착 접착성이 있는 샘플에서는 스타일러스에 끌려 정확한 측정 결과가 나오지 않습니다. 레이저 현미경은 비접촉이기 때문에 표면 상태에 영향을 받지 않고 정확한 거칠기 측정을 할 수 있습니다.

부드러운 샘플
접착성 샘플

마이크로 영역에서의 측정

접촉식 표면 거칠기 측정기는 스타일러스를 표면에 접촉하지 않고는 측정 할 수 없습니다. 레이저 현미경은 위치를 정확하게 확인하고, 목표한 마이크로 영역에서 거칠기 측정을 아주 쉽게 할 수 있습니다.


고품질 이미지

선명한 3D 컬러 이미지

통합이미지의 3가지 유형

LEXT OLS4100은 동일한 시각의 컬러 이미지, 레이저 현미경이미지, 높이 이미지를 동시에 얻을 수 있으며, 각각 2D・3D로 볼 수 있습니다. 레이저 현미경 이미지 뿐만 아니라 컬러 이미지도 초점이 맞는 이미지만 캡처 하기 때문에 선명한 이미지를 얻을 수 있습니다.

리얼 컬러 3D 이미지
공초점 3D 레이저 이미지
높이 정보

자연 컬러 재연

OLS4100은 백색 LED를 사용하며, 색 재현이 뛰어난 촬상 소자와 결합하여 선명하고 자연스러운 색조의 컬러 이미지를 생성 할 수 있습니다.

2D 컬러 이미지 (종이 위의 잉크젯 점, 대물렌즈 20x)
3D 컬러 이미지 (종이 위의 잉크젯 점, 대물렌즈 20x)

실제 표면 재현, 레이저 DIC (미분 간섭 대비)

미분 간섭 관찰(DIC)은 레이저 현미경의 분해능을 더 넘어선, 나노 미터 수준의 미세한 표면을 시각화하는 관찰 방법입니다. 이 레이저 DIC에 의해 OLS4100은 저배율의 라이브 관찰에서도 전자 현미경의 분해능과 같은 이미지를 얻을 수 있습니다.

DIC가 없는 레이저 현미경 이미지(고분자 필름)
DIC가 있는 레이저 현미경 이미지(고분자 필름)
DIC가 없는 레이저 현미경 이미지(5x 대물 렌즈)
STEP 높이 표준 타입 B, PTB-5, 독일 마이크로 전자 연구소
DIC가 있는 레이저 현미경 이미지(5x 대물 렌즈)
STEP 높이 표준 타입 B, PTB-5, 독일 마이크로 전자 연구소

밝기와 대비의 최적 밸런스 HDR (High Dynamic Range) 이미지

OLS4100의 HDR기능은 다른 노출로 촬영 한 여러 가지 광학 현미경 이미지를 결합하고 개별적으로 밝기, 명암, 질감과 채도를 조정하여 넓은 동적 범위의 HDR 프로세스로 이미지화합니다. OLS4100은 대비가 부족한 샘플의 미세 형상도 선명히 라이브 화상으로 관찰 할 수 있습니다.

컬러 이미지
(고밀도 직물, 대물렌즈 20x, 줌 1x)
HDR 컬러 이미지
(고밀도 구조, 대물렌즈 20x, 줌 1x)
알고리즘

측정 및 이미지 환경의 안전화

하이브리드 진동 완충 기구

OLS4100은 외부의 영향을 억제하여 측정 및 이미징 환경을 안정시키기 위해 본체에 코일 스프링과 댐핑 러버로 이루어진 ‘하이브리드 제진 장치 “를 내장하고 있습니다. 따라서 전용 제진대 없이도 측정이 가능합니다.


더 쉽게, 더 빠르게, 더 광범위하게.

3단계의 간단 조작

OLS4100에서는 샘플을 스테이지에 올리는 것 만으로, 곧바로 관찰 · 측정을 시작할 수 있습니다. 간단한 이미지 획득, 측정, 보고서 작성 이 3 단계로 레이저 현미경에 익숙하지 않은 초보자도 쉽게 측정 방법을 마스터 할 수 있습니다.


항상 샘플의 위치를 알 수 있습니다.

매크로 맵 기능

OLS4100에서는 매크로 맵 기능이 있기 때문에 “샘플이 지금 어디에 있는지”를 화면에 나타낼 수 있습니다. 전동 리볼버를 사용하기 때문에 저배율의 광범위한 샘플 이미지를 자동으로 표시합니다.
또한 스티칭 기능을 사용하면 기존에 비해 최대 441 배 넓은 시야의 매크로 맵을 만들 수있게 되었습니다.

고속 매크로 맵 스티칭


간편한 3D 이미징 스마트 스캔

자동 3D 이미지 획득

스마트 스캔 기능을 새롭게 첨가한 OLS4100. 기존의 3D 검사는 초보자에게는 어려운 복잡한 설정이 필요했지만, 스마트 스캔 기능을 통해 쉽게 3D 이미지 전송을 할 수있게 되었습니다. 상하단 설정 이외에 밝기 조정도 자동으로 수행되며 한 번의 클릭으로 이미지 전송이 가능하여 초보자도 숙련자와 같은 최적의 이미지 획득이 가능합니다.

자동 밝기 조절

평면 밝기 조절                                              높이의 범위 내에서 밝기 조절
획득 시간이 대폭 단축

스캐닝 스피드의 고속화

새롭게 생긴 초고속 모드는 기존 고속 모드의 약 2배, 고화질 모드의 약 9배의 속도로 스캔 할 수 있습니다. 이를 통해 광범위의 Z축 방향의 획득과 고배율이 필요한 칼 끝 같은 급경사 각도를 가진 샘플의 측정도 단시간에 가능합니다.
* 실제 스캔 시간은 Z축 방향의 범위 및 대물렌즈의 배율 등에 의해 변동됩니다.

동일 시간에 따른 이미지 획득 수:

실제 스캐닝 시간은 배율 과 Z축 획득 범위에 따라 달라집니다.

필요한 부분만을 고속 스캔

OLS4100 밴드 스캔 기능은 샘플 검사 범위를 한정함으로써 원래의 약 1 / 8의 고속 측정이 가능합니다.

풀 스캔을 한 획득
밴드 스캔을 한 획득(약 1/8 시간 단축)

새로운 고속 스티칭 모드

넓은 영역의 스티칭 이미지에서 원하는 영역을 지정

매크로 맵과 같은 절차로 획득한 광범위의 이미지에서 3D 스티칭 범위를 지정할 수 있습니다. 최대 625장의 이미지 스티칭이 기존의 절반의 소요시간으로 생성 가능합니다. 스티칭의 범위를 지정하는 방법은 사각형뿐만 아니라 원형으로도 선택할 수 있습니다.


수동으로 필요한 영역을 지정

실시간 관찰 모드로 화면에서 필요한 부분을 추적하여 수동으로 선택할 수 있습니다. 관찰 할 샘플이 불규칙한 형태를 가지고 있을 경우 편리합니다.


빠른 이미지 획득

스마트 스캔을 사용하여 이미지 획득을 한 번의 클릭으로 시작할 수 있습니다. 스마트 스캔 모드에서 Z축 방향 설정이 자동으로 이루어 지므로 Z축 방향의 획득 범위를 한정함으로써 더 많은 시간을 단축할 수 있습니다.


빠르고 이해하기 쉬운 보고서 작성

관찰 · 측정 결과의 신속한 보고서 작성도 레이저 현미경의 중요한 역할입니다. OLS4100은 측정 종료 후 한 번의 클릭으로 보고서 작성이 가능합니다. 개별 템플릿 사용자 지정이 자유 자재로 할 수있는 등 다양한 편집 기능도 갖추고 있습니다.


한번의 클릭으로 여러장의 이미지를 일괄 측정

상세 사용자 마법사 설정 기능은 긴 훈련의 필요 없이, 새로운 사용자도 빠르고 쉽게 작업을 할 수 있습니다.


-> 응용분야에 대하여 더 보기

BX53-bio

  •  관측 선호도에 맞춘 호환성

Olympus BX53 현미경은 cellSens 소프트웨어를 이용하여 조명 조절과 영상 획득이 가능하며 반자동 혹은 완전 자동화 옵션을 통해 실험에 대한 높은 유연성을 제공합니다. 그러므로 이러한 구성품들의 추가는 수준 높은 실험을 위해 뛰어난 가능성을 제공합니다.

보다 수준 높은 요구들을 충족시키기 위한 확장성

BX3 현미경 제품군은 연구 시장을 대상으로 폭 넓은 특징들과 우수한 광학 성능을 제공합니다. UIS2 광학계 시스템이 쉬운 조작의 전면부 제어기들을 채용한 탁월한 강도의 Y자 현미경 본체와 결합됨은, 다재다능함과 인체 공학적인 조작성을 제공합니다. 높은 공간 활용도의 BX53 현미경 본체는 다양한 작업과 함께 영상 처리를 통한 그 어떤 이미징 실험도 가능합니다. 그리고 디지털 이미징과 반자동 기능 그리고 형광(Fluorescence) 관찰의 완벽한 시작점이기도 합니다.

최적화된 명암 설정으로의 자동 전환

투과 조명 방식의 변경은 알맞은 맞는 대물렌즈 선택에 앞서 정확한 ND 필터, 편광판(Polarizer) / 분석판(Analyzer) 그리고 집광기 설정이 수반되어야 함을 의미합니다. 8구 범용 집광기는 모든 배율에서 사용할 수 있도록 상단 렌즈(Top lens) 까지도 조절합니다.. 이 집광기는 미분간섭(DIC) 프리즘, 위상차(Phase Contrast) 링슬릿과 편광판(Polarizer) 같은 광학 요소들의 쉬운 선택을 보증합니다. 조명과 대물렌즈를 잘 호환하기 위해, 광량 조리개는 자동으로 사용하고 있는 대물렌즈의 개구수로 설정됩니다.

설정 가능한 조절부 배열 형태

BX53은 중앙에 위치한 광량 조절 장치와 형광 조명 셔터를 어떤 손으로든 다룰 수 있게 하여 배치 시, 최대의 유연성을 발휘하도록 설계되었습니다. 또한, 미동나사는 핸들은 현미경 어느 측면에도 부착 가능합니다.

에너지-절약 스위치

동작감지기는 사용자의 부재를 파악하여 약 30분 뒤에 투과 조명 램프를 끕니다. 에너지 절약 스위치는 전력과 램프의 전력과 램프 수명을 아낄 수 있습니다.

  • 보다 향상된 감도의 형광 이미징

Olympus는 신호대잡음비(S/N ratio)를 극대화하고 형광(Fluorescence) 검출 능력을 개선하여, 밝은 시료의 색상과 어두운 배경으로 이루어진 형광(Fluorescence) 영상을 만듭니다. 균일한 조명과 검출 능력은 높은 투과율의 대물렌즈, 미러유닛과 fly-eye 렌즈 시스템의 결합으로 가능합니다.

Fly-eye 렌즈와 형광 조명장치들

시야 범위에 빛이 고르게 조사되도록 하는 것은 중요합니다. 형광 조명의 특성이 이를 더욱 어렵게 하지만, Olympus는 이를 해결하기 위해 fly-eye 렌즈 시스템을 결합한 새로운 형광 조명 기술을 개발하였습니다. 이러한 개선으로, 전 파장대의 균일한 조명뿐만 아니라 조명의 교정 또한 간단해졌습니다.

형광(Fluorescence) 관찰에서의 통합된 유연성

Olympus의 8구 형광 조명 장치는 매우 쉬운 교체가 가능한 미러 유닛들과 함께 다양한 형광(Fluorescence) 시료들을 위한 뛰어난 유연성을 제공합니다. 여러 색상의 형광(Fluorescence)을 보거나 FISH와 같은 실험 시의 미러 유닛 교체 필요성 감소를 통해 더욱 관찰이 빨라집니다.

개선된 코팅과 산란광 감소 기능의 형광 미러 유닛

UIS2 형광(Fluorescence) 미러 유닛의 종류는 형광(Fluorescence) 영상 실험에 최적화 되었습니다. 고품질의 미러 큐브 코팅은 우수한 투과율과 수직에 가까운 파장 한계선을 제공함과 동시에 최상의 감도와 색분해능을 보장하기 위해, 내부 표면에서 발생하는 산란광을 99% 제거합니다. 미러 큐브들은 별도의 도구 없이 쉽고 빠르게 바꿀 수 있습니다.

자가형광(Autofluorescence) 저감을 통한 고 투과율

광학계의 품질은 광학 현미경의 핵심입니다. Olympus UIS2 광학계는 개발되어 정확도와 선명도의 기준을 선도합니다. 높은 NA값을 갖는 대물렌즈는 색수차를 보정하고 고해상도 영상 획득이 가능하여 약한 신호도 감지할 수 있습니다. Olympus는 선별된 유리 원료에 고급 UW 다중 코팅 기술을 적용하여, 대물렌즈의 자가형광(Fluorescence)을 감소하고 S/N ratio를 눈에 띄게 개선하였습니다. UW multi coating은 넓은 파장대에서의 고 투과율로 평탄한 영상을 보여 주며, 연구 용도의 여러 형광(Fluorescence) 색소의 최대 성능을 보장합니다.

배면반사(Back-Reflections) 저감을 위한 집광기 디자인

전동 전용 집광기는 배면반사(Back-Reflections)와 자가형광(Fluorescence)(Autofluorescence)을 감소하도록 설계되어, 형광(Fluorescence) 관측시 top lens를 swing-out할 수 있고, 자동으로 조리개(diaphragm)를 최소 축소하고, wheel을 두 위치 사이로 움직입니다.

자가형광(Autofluorescence)이 감소된 이머전 오일

이 제품은 자가형광(Fluorescence)(Autofluorescence)을 저감하므로 형광(Fluorescence) 현미경용 이머전 오일에 적합하다. 감소된 노이즈(자가형광(Fluorescence), Autofluorescence)는 S/N ration를 향상시켜 우수한 형광(Fluorescence) 관측을 제공합니다. 자가형광(Fluorescence)(Autofluorescence)의 시간 변화가 적습니다. 노이즈가 생기기 쉬운 단일 분자 형광(Fluorescence)(single molecule fluorescence)의 정량 관측에 유용합니다. 결정화(Crystallization)에 대한 저항성은 장시간의 사용을 가능하게 합니다. 굴절 지표(Refraction Index)는 다른 Olympus 제품과 동일하며, 기존 현미경 시스템과 혼합하여 사용할 수 있습니다.

세계적 명성의 광학 성능

현미경 수준에서의 생물 표본은 명시야(Bright Field) 조명을 사용할 때 색상 편차와 같은 고유한 대비를 가지려 하지 않는 경향이 있습니다. 결과적으로 음영 대비를 만들기 위한 다양한 방식들이 개발되어왔습니다. 이들은 광학적 대조 방법과 시료를 통한 대조 방법, 이 2가지로 나눌 수 있습니다. 대조의 근원이 무엇이든지 간에 그 어떤 대조 방식에서도 Olympus의 BX3와 UIS2 광학 구성품들은 흠 잡을 데 없는 날카롭고 깨끗한 영상을 제공합니다.

 

  • 사용자에 맞춘 인체공학적 설계

안정된 관측 자세는 사람마다 다르므로, 이 현미경은 각 사용자에 맞춰 mm 단위의 조절이 가능합니다. Olympus 경통 제품군은 경사각, 경통 연장 혹은 높이 조절과 같은 기능을 제공하여 완벽한 3차원적으로 유연한 조절이 가능합니다.

높은 조절성의 이안 경통

현미경 사용 시, 바르면서 편안한 자세를 취하는 것은 필수적이나, 전적으로 사용자에게 달려있는 부분입니다. 인체 공학적으로 완벽한 거리, 꺾임, 높이 조절이 가능한 경통은 경사각, 길이와 높이 조절이 가능, 3차원적으로 완벽하게 유연한 설정이 가능합니다. 결과적으로 현미경을 정확히 사용자에 맞게 조정할 수 있습니다.

모든 요구를 만족하는 이안 경통

다양한 이안 경통 제품 군은 다양한 요구를 만족시킬 수 있습니다. 어떤 모델은 일반적인 도립상을 생성하는 반면 다른 모델은 표본과 동일한 방향으로 움직이는 정립상을 보여주어 표본 상에서 특정 부위를 보다 쉽게 찾을 수 있습니다.

  • 회의와 이미징을 위한 직관적인 조절 방법

품질과 마찬가지로 모든 단계에서의 장비 호환성도 고려하여 설계되어야 합니다. 이를 목표로 Olympus는 연구용 정립 현미경 BX3 시리즈를 개발하였습니다. BX53은 최고로 다재다능한 영상 시스템을 대변합니다. 이는 사용 도중 진행되는 적응성을 포함, 수많은 광학 부품, 반자동과 소프트웨어 옵션들을 다채로운 선택을 제공합니다.

최적의 자세를 위한 꺾임형 삼안 경통

각 사용자는 고유한 자세 및 장비 배치에 대한 요구가 있으므로, 작업 환경의 개인화뿐만 아니라 현미경 조절을 통한 인체공학적 환경을 제공하는 것은 자세 혹은 반복되는 스트레스로 인한 부상이 없도록 하여 장기간의 현미경 사용이 가능하도록 합니다. 최대의 시스템 유연성 및 사용자 편이를 위해, 기울기 조절 가능한 인체 공학적 삼안 경통 튜브는 접안렌즈 높이 조절뿐만 아니라 눈동자 간 거리 조절이 가능하고, 광로 슬라이더는 경통 튜브 어느 쪽에도 부착이 가능하며, 사용자가 현미경 전체를 제어할 수 있도록 하고 자신의 자세에 맞춰 현미경을 조절하는 것을 보장합니다.

영상 획득용 핸드스위치

유선 노출 조절 장치는 현미경의 모든 면에 장착할 수 있습니다. 이는 모니터 방향으로 시선을 돌리고 마우스를 조작하는 과정 없이 간단히 단추를 누르는 것만으로 영상 획득을 가능하게 하여 사용자에게 더욱 효율적이고 인체공학적인 사용성을 제공합니다. 이는 더 효율적일 뿐만 아니라, 사용자를 더 좋은 환경을 제공하기 위해 인체공학적인 것입니다.

Coded Unit을 활용한 현미경 데이터 저장

BX3의 추가 구성품인 수동 노스피스(Nosepiece)와 형광필터 변경장치(Mirror turret) 모듈은 영상 획득 시, 자동으로 현미경의 배율과 설정 정보를 기록하고 공유할 수 있습니다. 이 판독(Readout) 기능은 Olympus의 cellSens 소프트웨어 패키지로 축척 오류 없는 영상을 기록할 수 있습니다.

  • 늘어나는 요구에 최적화된 시스템

각 연구조사는 고유의 설정이 필요하기 때문에 연구용 현미경은 단순한 영상 획득을 위한 현미경을 넘어서야 합니다. 그 결과, 각 시스템은 높은 유연성 뿐만 아니라, 복잡 다양한 프로토콜과 프로세스들의 수행이 가능해야 합니다. Olympus BX3 시리즈 현미경은 호환성 높은 이미징 시스템과 함께 하드웨어와 소프트웨어를 사용자가 완벽히 조절할 수 있습니다.

그룹 관측 시스템

인체 공학적인 이안 경통, 삼안 경통 뿐만 아니라 Olympus는 사용자에게 최적화된 실험실 토론을 위한 이인, 다중 관찰용 연결 장치를 제공합니다. 이 시스템은 모든 그룹이 각자의 접안렌즈로 동시에 표본을 관찰하면서 토론이 가능하므로 임상학적, 교육적 관찰에 매우 적합합니다. 폭 넓은 선택 가능성으로 2 ~ 10명 혹은 그 이상의 동시 관찰을 지원합니다.

광범위한 요구 충족을 위한 디지털 이미징

다재다능한 BX53 시스템은 어떤 어플리케이션에도 적용될 수 있는 자유로움을 제공하는 시스템 현미경 입니다. 최첨단 연구부터 컨퍼런스에 최적화된 독립형(Stand-alone) 모델까지 디지털 카메라 및 cellSens 이미징 소프트웨어의 모든 제품군은 고 S/N ratio의 형광(Fluorescence) 영상 획득을 보증합니다.

STM7

The STM7 microscopes offer excellent versatility and high performance three axis measurements of parts and electrical components, with sub-micron precision. Whether samples are small or large, simple or complex, or measurements are being taken by a novice or an expert, the Olympus STM7 range features measuring microscopes tailored to fit your needs.

  • Accurate Measurements through the Integration of an Optical Microscope and Advanced Measurement Capability
  • The STM7 was Designed with Emphasis on Ease of Use
  • Accessories that Widen the Range of Observation and Measurement
  • Automated Focusing System Provides Superior Repeatability
  • System for Achieving More Advanced Measurement

Accurate Measurements through the Integration of an Optical Microscope and Advanced Measurement Capability

Observation Performance Refined through Years of Microscope Development

The STM7 series uses the same UIS2 infinity-corrected optical system used in state-of-the-art optical microscopes. As a result, observed images have high resolution and high contrast, with aberration thoroughly eliminated to help ensure highly accurate measurement in minute detail.

 


Measurement Reliability Enhanced with a Stage-Mounting Plate Crafted from Stone

STM7-LF FEM analysis

To provide further assurance of measurement accuracy, the STM7 series uses a highly durable, vibration-resistant frame with a granite surface plate. As a result of this stability, measurements can be taken at sub-micron-levels while ensuring minimal error.

 


Continuing to Provide User-friendly, High-Precision, 3-axis Measurement as a Pioneer of Height Measurement

Reflective Active, Confocal Autofocus System Optical Path

As modern manufacturing technology becomes increasingly miniaturized and precise, highly accurate measurements are even more essential—not only along the horizontal XY axes, but also along the Z-axis. Olympus has responded to such needs by being the fi rst to realize an autofocus system for measuring microscopes by means of the reflective active, confocal method.


Dependable Quality Based On a Strict Traceability System

Measuring Microscopes Traceability System

The accuracy of Olympus’ measuring microscopes is controlled by a strict traceability system and Olympus even offers traceable calibration at the time of installation.


The STM7 was Designed with Emphasis on Ease of Use 

Offering Stages to Fit the Sample Size at Hand

Common Problems

  • Short measurement stroke precludes the measurement of larger samples.
  • Sample rotation required to compensate for shorter Y than X-axis coverage during measurement is time inefficient. Until now, large stages have offered a sufficient measurement coverage on the X-axis, but only less coverage on the Y-axis.
  • Due to the narrow measurement range, it is impossible to line up large numbers of samples on the stage for measurement at once.

STM7 Solutions

  • Four types of stages are available, each with a unique square measurement stroke (choose from 50 mm x 50 mm, 100 mm x 100 mm, 200 mm x 200 mm, and 300 mm x 300 mm). From small to large size samples, there is a stage that fits the sample being measured.
  • A clutch system enables rapid switching between coarse and fine movements. Thanks to this switching function, the stage can also be moved rapidly along the X- and Y-axes, and freely across the XY plane.
  • The 300 mm square length stage enables the same measurement stroke to apply to both the X and Y-axes, which means it can be used to measure large samples, such as 300 mm wafers and printed circuit boards without changing their orientation.

 


Use the Same Microscope for Both Low- and High-Magnification Observations

Common Problems

  • Most conventional measuring microscopes only accept a measuring objective or metallurgical objective, and so are unable to meet the requirements for a wide variety of observations.

STM7 Solutions

  • The STM7 accepts both a metallurgical objective and a measuring objective by exchanging a revolving nosepiece with a measuring objective adapter. This means that the STM7 combines both metallurgical optics and measuring optics in one microscope. In this way, the STM7 series satisfi es a range of needs, no matter whether measuring a wide area or tiny region, measuring the size of differences betwe en levels, or assisting the user in deciding on the best observation method to choose.

Measuring Objectives

Because the measuring objectives have an extremely long working distance, they provide confidence when focusing on samples with large peaks and troughs while reducing worries of the objective coming into contact with the sample.
Furthermore, their low-magnifi cation capability enables wide areas to be observed in a single view.

Metallurgical Objectives

Metallurgical objectives enable high-magnifi cation, highresolution observation capability comparable to that of optical microscopes. What’s more, these objectives can be used not only for brightfield, but also for darkfield and DIC observation.

> Click here for details about UIS2 objective lenses


Manual and Motorized Focusing Model Options

The STM7 Line Includes both Manual and Motorized Focus Options

Focus control is available with either manual or motorized operation. Choose the model that addresses your needs in terms of samples and measurement content, regardless of stage size—with all frames incorporating a linear scale for the Z-axis that enables 3-axis measurement.

Manual Z-axis Focus Models

Manual Z-axis focus models offer excellent cost performance—with familiar handle operation for rapid vertical movement that offers convenience for users who needs to measure samples with variety of heights.

 

Motorized Z-axis Focus Models

Operability is improved and handling fatigue is reduced for focus and height measurements when using the motorized focus unit. The coaxial knobs for coarse and fine movement offer a feeling similar to manual operation, while the models can also be equipped with an autofocus unit.


A Revolutionary Control Unit Refines Measuring Microscope Usability

Common Problems

  • Additional functions require additional operational units. Operators can’t always locate the corresponding unit quickly, which significantly reduces measurement efficiency.
  • Numerous operational units and their power supplies around the main unit occupy valuable working space.

STM7 Solutions

Controllers

With the STM7 series, a single controller makes it possible to perform virtually all measuring microscope operations, including use of readout reset, illumination control, focusing, and autofocus. For efficiency and convenience, the unit can be placed wherever you wish and operated easily with one hand.

Control Box

The power supply and transmission for each unit are combined in a single control box. This preserves maximal work space even when a range of optional functions, such as the focus navigator, are added.


Automatic Light Intensity Adjustment Greatly Improves the Efficiency of Observation and Measurement

Common Problems

  • Analog volume adjustment used by conventional measuring microscopes does not enable the quantitative assessment of light intensity, which can lead to variability in measured values as light intensity changes.
  • With conventional measuring microscopes, light intensity may need to be adjusted every time the objective is switched—making for an inefficient workflow.

STM7 Solutions

Close Control through a Quantitative Digital Display of Light Intensity Values

The STM7 series provides a quantitative digital display of light intensity—enabling observations to always be made under consistent illumination conditions.

 

Light Intensity Manager Eliminates the Need for Manual Adjustment

Light intensity manager can be used with the coded revolving nosepiece configuration. The coded revolving nosepiece automatically detects the switching of objectives. This allows the illumination method and light intensity to be registered for each objective, and adjusted automatically during measurements when the objective is switched. Now there is no need to manually adjust light intensity, which used to be required with every switch between magnifications.

 


A Detachable Digital Read Out for Preferred Location Enables Swift, Convenient Checking of Measurement Results and Equipment Status

Common Problems

  • The need to check the operation status of equipment, such as illumination, or measured values on individual units makes overall operation cumbersome.

STM7 Solutions

Digital Indicator Enables the Current Operation Status to be Verified Visually

The indicator displays the device status and settings. The minimum X, Y, and Z-axis values can be switched between 0.1 μm and 1 μm, and the display units can be switched between mm, μm, inches and mil.

Detachable Digital Readout Allows for Individual Preference and Placement

Whether attached to the frame or a desk, the placement of the detachable digital readout is up to the individual user. While standing to take measurements, it can be placed on the side of the frame at almost the same height as the site of observation for an exceptional and easy view. When operating from a sitting position, such as observation or measurements on a monitor via a digital camera or when using the motorized Z-axis focusing model, simply place the digital readout and hand controller on the desk.


Automated Focusing System Provides Superior Repeatability

Achieve Faster, Simpler, More Accurate Height Measurement

Common Problems

  • When doing visual measurement, variations can arise in the height measurements between different operators. Furthermore, this measurement method is time-consuming and inefficient.

STM7 Solutions

Simple and Highly-Precise Focusing System with Superior Repeatability

The Olympus’ focus navigator delivers highly reproducible height measurement by projecting a pattern within the fi eld of view and identifying vertical deviations. Slight errors can occur in height measurements taken with normal visual observation, even when focus appears to be sharp. The focus navigator, however, enables measurements to be made simply by matching up the marks—thereby reducing operator subjectivity in measurement results.

Focus Navigator

Visual Height Measurement

 


Autofocus Advantage for Fast and Highly Accurate Height Measurement

Common Problems

  • During visual measurement, the results of height measurement can vary between different operators.
     
  • Manual height measurement requires the operator to repeatedly move the stage and adjust the focus with the handle, making measurement time-consuming and inefficient.
     
  • Focusing on minute objects, such as bonding wires, is difficult.

STM7 Solutions

Dedicated Autofocus Unit: Outstanding Reproducibility and Focusing Speed

The STM7 dedicated autofocus unit allows highly accurate height measurements to be made with minimal time, regardless of the level of operator experience. Use of the reflective active, confocal method provides a stable focal point independent of surface roughness or a slanting sample surface, while the small laser diameter enables the use of autofocus, even on minute objects, such as bonding wires.

 One-shot Mode

Instantaneously takes autofocus from a roughly focused state to sharp focus located at the center of the field of view.

TRACK Mode

The featured TRACK Mode provides autofocus that tracks the peaks and troughs of the sample, even if the stage is moved, keeping the image continually in focus. This advancement greatly improves the efficiency of Z-axis measurements by enabling observations to be made without taking your hands off the X and Y handles.


Accessories that Widen the Range of Observation and Measurement

Coded Revolving Nosepiece

Combining a coded revolving nosepiece with a digital camera lets you display the objective magnification on-screen during observation and allows you to record that magnification.
This convenient feature allows information on your sample and the objective’s magnification to be recorded at the same time when recording a sample.


MM6-EMO/ Erect Image Monocular Tube

Monocular tube for erect images. Can be used in combination with MM6-OCC10x (eyepiece with cross hairs).

 

 

 


STM7-FS/ Foot Switch

Enables hands-free transmission of data, allowing operators to complete measurement without taking hands off the X and Y handles.

 

 


SZ-LW61/ White LED Illumination Unit

This light-weight, space-saving design model provides a long operating life and low power consumption. The cost-effective LED illumination unit is also free from the flickering and brightness fluctuation.

 


SZX2-ILR66+SZX-RHS/ LED Ring Illuminator+Manual Control Unit

SZX-RHS manual control unit enables independent illumination of four-segments of the SZX2-ILR66 reflected LED ring illuminator, which provides clear images with high color temperature. The optimal illumination can be selected from 13 patterns.


Rotatable Stage

Enables easy parallel alignment of sample.


 

System for Achieving More Advanced Measurement

Measurement Support System

The ability to clearly and easily see the output display component of measuring microscopes is essential. That is why the new Olympus measuring software has been created, helping to deliver complex measurements with greater accuracy. The software also enables the use of digital cameras.

Configuration

Example Configurations for Materials Science and Industry

BX53M Reflected and Reflected/Transmitted Light Combination

There are two types of microscope frames in the BX3M series, one for reflected light only and one for both reflected and transmitted light. Both frames can be configured with manual, coded, or motorized components. The frames are outfitted with ESD capability to protect electronic samples.


BX53M IR Combination

 

IR objectives can be used for semiconductor inspection, measurement, and processing applications where imaging through silicon is required to see the pattern. 5X to 100X infrared (IR) objectives are available with chromatic aberration correction from visible light wavelengths through the near infrared. For highmagnification work, rotating the correction collar of the LCPLNIR series of lenses corrects for aberrations caused by sample thickness. A clear image is obtained with a single objective.


BX53M Polarized Light Combination

The optics of the BX53M polarized light combination provide geologists with the right tools for high-contrast polarized light imaging. Applications such as mineral identification, investigating the optical characteristics of crystals, and observing solid rock sections benefit from system stability and precise optical alignment.


Bertrand Lens for conoscopic and orthoscopic observations

With a U-CPA conoscopic observation attachment, switching between orthoscopic and conoscopic observation is simple and fast. It is focusable for clear back focal plane interference patterns. The Bertrand field stop makes it possible to obtain consistently sharp and clear conoscopic images.


An Extensive Range of Compensator and Wave Plates

Six different compensators are available for measurements of birefringence in rock and mineral thin sections. Measurement retardation level ranges from 0 to 20λ. For easier measurement and high image contrast, the Berek and Senarmont compensators can be used, which change the retardation level in the entire field of view.


Measuring range of compensators

ompensator Measuring Range Major Application
Thick Berek(U-CTB) 0-11,000 nm
(20λ)
Measurement of High Retardation Level (R*>3λ), (crystals, macromolecules, fiber, etc.)
Berek(U-CBE) 0-1,640 nm
(3λ)
Measurement of Retardation Level (crystals, macromolecules, living organisms, etc.)
SenarmontCompensator(U-CSE) 0-546 nm
(1λ)
Measurement of Retardation Level (crystals, living organisms, etc.) Enhancement of Image Contrast (living organisms, etc.)
Brace-Koehler Compensator
1/10λ (U-CBR1)
0-55 nm
(1/10λ)
Measurement of Low Retardation Level (living organisms, etc.)
Enhancement of Image Contrast (living organisms, etc.)
Brace-Koehler Compensator
1/30λ (U-CBE2)
0-20 nm
(1/30λ)
Measurement of image contrast
(living organisms, etc.)
Quartz Wedge(U-CWE2) 500-2,200 nm
(4λ)
Approximate Measurement of Retardation Level (crystal, macromolecules, etc.)

*R = retardation level

For more accurate measurement, it is recommended that compensators (except U-CWE2) be used together with the interference filter 45-IF546.


Strain Free Optics

Thanks to Olympus’ sophisticated design and manufacturing technology, the UPLFLN-P strainfree objectives reduce internal strain to the minimum. This means a higher EF value, resulting in excellent image contrast.


BXFM System

The BXFM can be adapted to special applications or integrated into other instruments. The modular construction provides for straightforward adaptation to unique environments and configurations with a variety of special small illuminators and fixturing mounts.


Modular Design, Build Your System Your Way

Microscope Frames

There are two microscope frames for reflected light, one also has transmitted Light; capability. An adapter is available to raise the illuminator to accommodate taller samples.

 

■: Possible Reflected light Transmitted light Sample height
1 BX53MRF-S 0-65 mm
2 BX53MTRF-S 0-35 mm
3 BX3M-ARMAD +40 mm

Stands

For microscopy applications where the sample will not fit on a stage, the illuminator and optics can be mounted to a larger stand or to another piece of equipment.

 

 

BXFM + BX53M illuminator configuration

1 BXFM-F Frame interface is wall mounting/32 mm pillar
2 BX3M-ILH Illuminator holder
3 BXFM-ILHSPU Counter spring for BXFM
6 SZ-STL Large stand

Unit Combination Required: (1, 2 and 6)
Option: 3

BXFM + U-KMAS illuminator configuration

1 BXFM-F Frame interface is wall mounting/32 mm pillar
4 BXFM-ILHS U-KMAS holder
5 U-ST Stand
6 SZ-STL Large stand

Unit Combination Required: (1, 4 and 5) or (1, 4 and 6)
Option: –


Tubes

For microscope imaging with eyepieces or for camera observation, select tubes by imaging type and operator’s posture during observation.

  FN Type Angle type Image Number of diopter 

adjustment mechanisms

1 U-BI30-2 22 Binocular Fixing Reverse 1
2 U-TBI-3 22 Binocular Tilting Reverse 1
3 U-TR30-2 22 Trinocular Fixing Reverse 1
4 U-TR30IR 22 Trinocular for IR Fixing Reverse 2
5 U-ETR-4 22 Trinocular Fixing Erect 2
6 U-TTR-2 22 Trinocular Tilting Reverse 2
7 U-SWTR-3 26.5 Trinocular Fixing Reverse 2
8 U-SWETTR-5 26.5 Trinocular Tilting Erect 2
9 U-TLU 22 Single port
10 U-TLUIR 22 Single port for IR

Illuminators

The illuminator projects light onto the sample based on the observation method selected. Software interfaces with coded illuminators to read the cube position and automatically recognize the observation method.

 

■: Possible Coded function Light source BF DF DIC POL IR FL MIX AS

/FS

1 BX3M-RLAS-S Fixed 3 cube position LED – Built in
2 BX3M-URAS-S Attachable 4 cube position LED
Halogen
Mercury

/Light guide

3 BX3M-RLA-S   LED
Halogen
4 BX3M-KMA-S   LED – Built in
5 BX3-ARM Mechanical arm

for transmitted light

6 U-KMAS   LED
Halogen

Light Sources

Light sources and power supplies for sample illumination, choose the appropriate light source for the observation method.

 

 

Standard LED light resource configuration

1 BX3M-LEDR LED lamp housing for reflected light
2 U-RCV DF converter for BX3M-URAS-S, required for observation with DF and BF when necessary
3 BX3M-PSLED Power supply for LED lamp housing, requires BXFM system
4 BX3M-LEDT LED lamp housing for transmitted light

Unit Combination Required: (1 and 3) or 4*1
Option: 2
*1:Only using BX53MTRF-frame

Fluorescence standard light resource configuration

5 U-LLGAD Light guide adapter
2 U-RCV DF converter for BX3M-URAS-S, required for observation
with DF and BF when necessary
6, 7 U-LLG150 (300) Light guide, length:1.5 m (3 m)
8 U-HGLGPS Light source for fluorescence

Unit Combination Required: (5, 6 and 8) or (5, 7 and 8)
Option: 2

Fluorescence mercury light resource configuration

9, 10 U-LH100HG(HGAPO) Mercury lamp housing for fluorescence
2 U-RCV DF converter for BX3M-URAS-S, required for observation with DF and BF when necessary
11 U-RFL-T Power supply for 100W mercury lamp

Unit Combination Required: (9 and 11) or (10 and 11)
Option: 2

Halogen and Halogen IR light resource configuration

12 U-LH100L-3 Halogen lamp housing
13 U-LH100IR Halogen lamp housing for IR
14 U-RMT Extender cable for halogen lamp housing, cable length 1.7 m (requires cable extension when necessary)
15, 16 TH4-100 (200) 100V (200V) specification power supply for 100W/50W halogen lamp
17 TH4-HS Hand switch for light intensity of halogen (dimmer TH4-100 (200) without hand switch)

Unit Combination Required: (12 and 15) or (12 and 16) or (13 and 15) or (13 and 16)
Option: 14, 17


Nosepieces

Attachment for objectives and sliders. Select by the number of objectives needed and types; also with/without slider attachment.

 

 

■: Possible Type Holes BF DF EIC MIX ESD Number of centering holes
1 U-P4RE Manual 4         4
2 U-5RE-2 Manual 5          
3 U-5RES-ESD Coded 5        
4 U-D6RE Manual 6        
5 U-D6RE-ESD-2 Manual 6      
6 U-P6RE Manual 6       2
7 U-D7RE Manual 7        
8 U-D6RES Coded 6        
9 U-D7RES Coded 7        
10 U-D5BDREMC Motorized 5    
11 U-5BDRE Manual 5        
12 U-D5BDRE Manual 5    
13 U-P5BDRE Manual 5   2
14 U-D6BDRE Manual 6    
15 U-D5BDRES-ESD Coded 5  
16 U-D6BDRES-S Coded 6  
17 U-D6REMC Motorized 6    
18 U-D6BDREMC Motorized 6    

Sliders

Select the slider to compliment traditional brighfield observation. The DIC slider provides topographic information about the sample with options to maximize contrast or resolution. The MIX slider provides illumination flexibility with a segmented LED source in the darkfield path.

  Type Amount of shear Available objectives
1 U-DICR Standard Medium MPLFLN, MPLAPON, LMPLFLN, and LCPLFLN-LCD
2 U-DICRH Resolution Small MPLFLN, MPLAPON
3 U-DICRHC Contrast Large LMPLFLN and LCPLFLN-LCD

MIX slider for MIX observation.

  Type Available objectives
4 U-MIXR MIX slider MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD

Controls Box and Hand Switches

Control boxes for interfacing microscope hardware with a PC and hand switches for hardware display and control.

 

 

BX3M-CB (CBFM) configuration

1 BX3M-CB Control box for BX53M system
2 BX3M-CBFM Control box for BXFM system
3 BX3M-HS MIX observation control, indicator of coded hardware, programmable function button of software (Stream)
4 BX3M-HSRE Motorized nosepiece rotation
5 U-HSEXP Shutter operation of camera

Unit Combination Required: 1 or 2
Option: 3, 4, 5

U-CBS configuration

6 U-CBS Control box for coded functions in BXFM configuration
5 U-HSEXP Shutter operation of camera

Unit Combination Required: 6
Option:  5

 Cable

U-MIXRCBL (ECBL) U-MIXR cable, cable length: 0.5 m (2.9 m)
  BX3M-RMCBL (ECBL) Motorized nosepiece cable, cable length: 0.2 m (2.9 m)

Stages

Stages and stage plates for sample placement. Select based on sample shape and size.

 

 

150 mm × 100 mm stage configuration

1 U-SIC64 150 mm × 100 mm flat top handle stage
2 U-SHG (T) Silicone rubber operability handle rubber for improvement (thick type)
3 U-SP64 Stage plate for U-SIC64
4 U-WHP64 Wafer plate for U-SIC64
5 BH2-WHR43 Wafer holder for 4-3 in.
6 BH2-WHR54 Wafer holder for 5-4 in.
7 BH2-WHR65 Wafer holder for 6-5 in.
8 U-SPG64 Glass plate for U-SIC64

Unit Combination
Required: (1 and 3) or (1 and 8) or (1, 4 and 5) or (1, 4, and 6) or (1, 4 and 7*1)
Option: 2
*1:Only using U-WHP64 unit

100 mm × 100 mm stage configuration

9, 10 U-SIC4R (L) 2 105 mm × 100 mm right (left) handle stage
11 U-MSSP4 Stage plate for U-SIC4R (L) 2
12 U-WHP2 Wafer plate for U-SIC4R (L) 2
6 BH2-WHR43 Wafer holder for 4-3 in.
13 U-MSSPG Glass plate for U-SIC4R

Unit Combination
Required: (9 and 11) or (9 and 12) or (9, 11 and 12) or (10 and 11) or (10 and 13) or (10, 11 and 12)
Option: –

76 mm × 52 mm stage configuration

14, 15 U-SVR (L) M 76 mm × 52 mm right (left) handle stage
2 U-SHG (T) Silicone rubber operability handle rubber for improvement (thick type)
16 U-MSSP Stage plate for U-SVR (/L) M
17, 18 U-HR (L) D-4 Thin slide holder for the right (left) opening
19, 20 U-HR (L) DT-4 Thick slide holder for the right (left) opening, for pressing the slide glass
to stage top surface, the specimen is difficult to lift.

Unit Combination
Required: (14, 16, 17 and 19) or (14, 16, 17 and 20) or (14, 16, 18 and 19) or (14, 16, 18 and 20) or (15, 16, 17 and 19) or (15, 16, 17 and 20) or (15, 16, 18 and 19) or (15, 16, 18 and 20)
Option: 2

Rotatable stage configuration

21 U-SRG2 Rotatable stage
22 U-SRP Rotatable stage for POL, from any position can be 45° click stop
23 U-FMP Mechanical stage for U-SRP/U-SRG2

Unit Combination
Required: (21 and 24) or (22 and 24)
Option: 23

Fixed stage configuration

1 U-SP Fixed stage of a single plate

Camera Adapters

Adapter for camera observation. Selectable from required field of view and magnification. Actual observation range can be calculated using this formula:
actual field of view (diagonal mm) = viewing field (viewing number) ÷ objective magnification.

  Magnification Centering adjustment CCD image area (field number)
2/3 inch 1/1.8 inch 1/2 inch
1 U-TV1x-2 with U-CMAD3 1 10.7 8.8 8
2 U-TV1xC 1 ø2 mm 10.7 8.8 8
3 U-TV0.63xC 0.63 17 14 12.7
4 U-TV0.5xC-3 0.5 21.4 17.6 16
5 U-TV0.35xC-2 0.35 22
6 U-TV0.25xC 0.25

Eyepieces

Eyepiece for viewing directly into the microscope. Select based on desired field of view.

 

 

■: Possible FN Diopter adjustment mechanism Built-in cross reticle
1 WHN10x 22    
2 WHN10x-H 22  
3 CROSS WHN10x 22
4 SWH10x-H 26.5  
5 CROSS SWH10x 26.5

Optical Filters

Optics filters convert sample exposure light to various types of illumination. Select the appropriate filter for observation requirements.

 

 

BF, DF, FL       1, 2, 3 U-25ND50, 25,6 Neutral density filter, transmittance 50%, 25%, 6%
4 U-25LBD Daylight color filter
5 U-25LBA Halogen color filter
6 U-25IF550 Green filter
7 U-25L42 UV-cut filter
8 U-25Y48 Yellow filter
9 U-25FR Frost filter (Required for the BX3M-URAS-S)
POL, DIC      10 U-AN-2 Polarization direction is fixed
11 U-AN360-3 Polarization direction is rotatable
12 U-AN360P-2 High quality polarization direction is rotatable
13 U-PO3 Polarization direction is fixed
14 U-POTP3 Polarization direction is fixed, for use with U-DICRH
15 45-IF546 Green ø45mm filter for POL
IR    16 U-AN360IR IR polarization direction is rotatable (reduces halation at IR observation when using combination with U-AN360IR and U-POIR)
17 U-POIR IR polarization direction is fixed
18 U-BP1100IR Band pass filter: 1100 nm
19 U-BP1200IR Band pass filter: 1200 nm
Transmitted light*  20 43IF550-W45 Green ø45 mm filter
21 U-POT Polarizer filter
Other  22 U-25 Empty filter, for use with user’s ø25 mm filters
23 U-FC Transmitted filter cassette; used by combining o45 mm filters

*AN and PO are not necessary when using BX3M-RLAS-S and U-FDICR


Condensers

Condensers collect and focus transmitted light. Use for transmitted light observation.

 

 

1 U-AC2 Abbe condenser (available from 5x objectives)
2 U-SC3 Swing-out condenser (available from 1.25x objectives)
3 U-LWCD Long working distance condenser for glass plate (U-MSSPG, U-SPG64)
4 U-POC-2 Swing-out condenser for POL

Mirror Units

Mirror unit for BX3M-URAS-S. Select the unit for required observation.

 

 

1 U-FBF For BF, detachable ND filter
2 U-FDF For DF
3 U-FDICR For POL, crossed nicol position is fixed
4 U-FBFL For BF, built-in ND filter (It is necessary to use both BF* and FL)
*For coaxial episcopic illumination only
5 U-FWUS For Ultra Violet-FL BP330-385 BA420 DM400
6 U-FWBS For Blue-FL BP460-490 BA520IF DM500
7 U-FWGS For Green FL BP510-550 BA590 DM570
8 U-FF Empty mirror unit, Used user’s optical element

Intermediate Tubes

Various types of accessories for multiple purposes. For use between tube and illuminator.

 

 

1 U-CA Magnification changer (1x, 1.25x, 1.6x, 2x)
2 U-ECA Magnification changer (1x, 2x)
3 U-EPA2 Eye point adjuster: + 30 mm
4 U-DP Dual port for U-DP1xC
5 U-DP1xC C-mount TV camera adapter for U-DP
6 U-TRU Trinocular intermediate unit

UIS2 Objectives

Objectives magnify the sample. Select the objective that matches the working distance, resolving power and observation method for the application.

> Click here for details about UIS2 objective lenses

Image Quality

A History of Leading-edge Optics

Superior Optical Performance: Wave Front Aberration Control

When using a microscope for advanced research or system integration, optical performance must be standardized for all objectives. Olympus’ UIS2 objectives go beyond conventional numerical aperture (NA) and working distance (WD) performance standards by providing wave front aberration control, that minimizes the aberrations that lower resolution.


Stable Color Temperature and High-Intensity White LED Illumination

The BX3M utilizes a high-intensity white LED light sources for both reflected and transmitted light. The LED maintains a consistent color temperature regardless of intensity. LEDs provide efficient, long-life illumination that is ideal for inspecting materials science applications.


Superior Quality for Advanced Performance

Support Precise Measurement: Auto Calibration

Similar to digital microscopes, automatic calibration is available when using OLYMPUS Stream. Auto-calibration eliminates human variability in the calibration process leading to more reliable measurements. Auto calibration uses an algorithm that automatically calculates the correct calibration from an average of multiple measurement points. This minimizes variance introduced by different operators and maintains consistent accuracy, improving reliability for regular verification.


Seamless Stitching : Image Shading Correction

Shading correction is implemented within OLYMPUS Stream software to accommodate for shading around the corners of an image. When used with intensity threshold settings, shading correction provides more precise analysis. Additionally, a more uniform panoramic image is acquired when tiling images with MIA.

  • Left image: Raw image illustrating shading where images were stitched together
  • Right image: Shading correction produces even illumination across the field of view
1 x 3 MIA image (Sample: Residue on membrane filter)

 

Feature

Functionality for a Range of Inspection and Analytical Tasks

The Invisible Becomes Visible: MIX Observation

The BX3M’s MIX observation technology combines traditional illumination methods with darkfield illumination. When the MIX slider is used, its ring of LEDs shine directional darkfield on the sample. This has a similar effect to traditional darkfield, but provides the ability to select a quadrant of the LEDs in order to direct the light from different angles. This combination of directional darkfield and brightfield, fluorescence, or polarization is called MIX illumination, and is especially helpful to highlight defects and differentiate raised surfaces from depressions.

Conventional 

Brightfield shines the light straight down on the sample while traditional darkfield highlights scratches and imperfections of a flat surface by illuminating the sample from the side of the objective.

Advanced

MIX is a combination of either brightfield, fluorescence, or polarized light and directional darkfield from a ring of LEDs. The LEDs can be adjusted to select which direction to illuminate from. This provides unique contrast and highlights features on the surface that cannot seen with conventional methods.


Easily Move the Stage for Panorama: Instant MIA

You can now stitch images easily and quickly just by moving the XY knobs on the manual stage; no motorized stage is necessary. OLYMPUS Stream uses pattern recognition to generate a panoramic image giving users a wider field of view than a single frame.

Instant MIA image of a coin

Create All-in-focus Images: EFI

The Extended Focus Imaging (EFI) function within OLYMPUS Stream captures images of samples whose height extends beyond the depth of focus of the objective and stacks them together to create one image that is all in focus. EFI can be executed with either a manual or motorized Z-axis and creates a height map for easy structure visualization. It is also possible to construct an EFI image while offline within Stream Desktop.


Capture Both Bright and Dark Areas: HDR

Using advanced image processing, high dynamic range (HDR) adjusts for differences in brightness within an image to reduce glare. HDR improves the visual quality of digital images thereby helping to generate professional-looking reports.

Clearly exposed for both of dark and bright parts by HDR
(Sample: fuel injector bulb)
Contrast enhancement by HDR
(Sample: Sliced magnesite)

Adaptable to Suit Observational and Analysis Preferences

Wide Choice of Observation Methods

Reflected light microscopy spans a range of applications and industries.These are just some of the examples of what can be achieved using different observation methods, such as brightfield(BF), darkfield(DF), differential Interference Contrast(DIC), polarized light(PL), fluorescence(FL), infra-red(IR), and transmitted light(TL).

 


Routine or Basic Measurement Functions

Various measurement functions are available through OLYMPUS Stream so that the user can easily obtain useful data from the images. For quality control and inspection, measuring features on images are often required. All levels of OLYMPUS Stream licenses include interactive measurement functions such as distances, angles, rectangles, circles, ellipses, and polygons. All measured results are saved with the image files for further documentation.


Count and Measure

Object detection and size distribution measurement are among the most important applications in digital imaging. OLYMPUS Stream incorporates a detection engine that utilizes threshold methods to reliably separate objects (e.g., particles, scratches) from the background.


Materials Science Solutions

OLYMPUS Stream offers an intuitive, workflow-oriented interface for complex image analysis. At the click of a button, the most complex image analysis tasks can be executed quickly, precisely, and in compliance with most common industrial standards. With a significant reduction in processing time for repeated tasks, materials scientists can concentrate on analysis and research. Modular add-ins for inclusions and intercept charts are easily performed at any time.


3D Sample Measurement

When using an external motorized focus drive, an EFI image can be quickly captured and displayed in 3D. The height data acquired can be used for 3D measurements on the profile or from the single view image.


Accommodates a Wide Range of Samples

View More Sample Types and Sizes

The new 150 × 100 mm stage provides a longer travel in the X direction than previous models. This, together with the flat-top design, enables large samples or multiple samples to be easily placed on the stage. The stage plate has tapped holes to attach a sample holder. The larger stage provides flexibility to users by enabling them to inspect more samples on one microscope, saving valuable lab space. The stage’s adjustable torque facilitates fine positioning under high magnification with a narrow field of view.


Flexibility for Sample Height and Weight

Samples up to 105 mm can be mounted on the stage with the optional modular unit. Due to the improved focusing mechanism, the microscope can accommodate a total weight (sample + stage) of up to 6 kg. This means that larger and heavier samples can be inspected on the BX3M, so fewer microscopes are required in the lab. By strategically positioning a rotatable holder for 6-inch wafers off-center, users can observe the whole wafer surface by just rotating the holder when moving through the 100 mm travel range. The stage’s torque adjustment is optimized for ease of use and the comfortable handle grip makes it easy to find the region of interest of the sample.

BX53MRF-S

Flexibility for Sample Size

When samples are two large to place on a traditional microscope stage, the core optical components for reflected light microscopy can be configured in a modular configuration. This modular system, the BXFM, can be mounted to a larger stand via a pole or mounted to another instrument of choice using a mounting bracket. This enables users to take advantage of Olympus’ renowned optics even when their samples are unique in size or shape.

BXFM

Protect Electronic Devices from Electrostatic Discharge: ESD Compatible

The BX3M has an ESD dissipation capability that protects electronic devices from static electricity caused by human or environmental factors.


 

Ease of Use

Comfortable and Easy to Use

 

Traditional Techniques Made Easy: Simple Illuminator

The illuminator minimizes complicated actions that are usually necessary during microscope operation. A dial at the front of the illuminator enables the user to easily change the observation method. An operator can quickly switch between the most frequently used observation methods in reflected light microscopy, such as from brightfield, to darkfield, to polarized light, in order to readily change between different types of analysis. In addition, simple polarized light observation is adjustable by rotating the analyzer.

An operator can quickly switch between frequently used observation methods.(Polished sample of AlSi)

Intuitive Microscope Controls: Simple FS and AS Settings

Using the proper aperture stop and field stop settings provides good image contrast and makes full use of the numerical aperture of the objective. The legend guides the user to the correct setting based on the observation method and objective in use.


Find the Focus Quickly: Focus Scale Index

The focus scale index on the frame supports quick access to the focal point. Operators can roughly adjust the focal point without viewing the sample through an eyepiece, saving time when inspecting samples that are different heights.


For Consistent Illumination: Light Intensity Manager

During the initial setup, the illumination intensity can be adjusted to match the specific hardware configuration of the coded illuminator and/or coded nosepiece.

Conventional Light Intensity

Similar to conventional microscopes, the image appears darker with increasing magnification and observation methods that consume more light

Light Intensity Manager

The microscope automatically adjusts the light intensity to the correct value when changing magnification or observation method


Easy and Ergonomic Operation

Ergonomics are of the utmost importance for all users. Both standalone microscope users and those integrating with OLYMPUS Stream image analysis software benefit from ergonomic handset controls that clearly display the hardware position. The simple handsets enable the user to focus on their sample and the inspection they need to perform.


A System Designed for Image Analysis

For Restoring Microscope Settings: Coded Hardware

The BX3M employs new coded functions that integrate the microscope’s hardware settings with OLYMPUS Stream image analysis software. The observation method, illumination intensity, and objective position are all recorded within the software and/or the handset. The coded functions enable the microscope settings to be automatically saved with each image, making it easier to reproduce the settings at a later time and provide documentation for reporting purposes. This saves the operator time and minimizes the chance that an incorrect setting will be used. The current observation settings are always clearly displayed both on the hand switch and in the software.

BX53M

BX53M

Ease of use Feature Image quality Configuration

Designed with modularity in mind, the BX3M series provide versatility for a wide variety of materials science and industrial applications. With improved integration with OLYMPUS Stream software, the BX3M provides a seamless workflow for standard microscopy and digital imaging users from observation to report creation.


User-Friendly

  • Traditional Techniques Made Easy: Simple Illuminator
  • Intuitive Microscope Controls: Simple FS and AS Settings
  • Find the Focus Quickly: Focus Scale Index
  • Consistent Illumination: Light Intensity Manager
  • Easy and Ergonomic Operation
  • Easy Restore Microscope Settings: Coded Hardware
  • Basic Measurement Functions

Functional

  • The Invisible Becomes Visible: MIX Observation
  • Create All-in-focus Images: EFI
  • Easily Move the Stage for Panorama: Instant MIA
  • Capture Both Bright and Dark Areas: HDR
  • Adaptable to Suit Observational and Analysis Preferences
  • Accommodates a Wide Range of Samples

Precision Optics

  • Superior Optical Performance: Wave Front Aberration Control
  • Stable Color Temperature and High-Intensity White LED Illumination
  • Support Precise Measurement: Auto Calibration
  • Seamless Stitching : Image Shading Correction

Fully Customizable

  • Various configurations to meet users’ requirements
  • Modular Design, Build Your System Your Way

SZX10

SZX10

OLYMPUS SZX10은 Working Distance와 Field Size가 중요할 때 선택하시는 모델입니다. 렌즈의 디자인에 따라 왜곡현상없이 제품 혹은 샘플의 고유 색감을 그대로 관찰하실 수 있습니다.

  • 안정성 및 반복성
  • 인체공학적이고 빠른 사용
  • 지능적인 디지털 영상

안정성 및 반복성

 빠른 검사가 가능한 조절 손잡이

Zoom knob with click-stop

0.63배 에서 6.3배에 이르는 넓은 범위의 배율은 듀얼 렌즈 홀더를 통해 더 높은 배율도 볼 수 있으며, 별도의 렌즈 교체 없이 다양한 배율에서의 관찰이 가능합니다. 축을 이루는 빛 경로 설정의 장점은 카메라로 찍은 측정값이 현미경에서 샘플의 방향에 상관없이 모든 방향으로 안정적이고 정확하며 많은 영상 및 측정 작업들은 같은 배율에서 일관성있고 비교할 수 있는 정확한 결과값을 보장합니다. 11개의 click-stop 지점들은 중요한 기능들을 빠르고 쉽게 사용할 수 있도록 합니다.


8개의 호환가능한 렌즈로부터의 뛰어난 성능

Lineup of Objective Lenses

DFPL2x/DPFL1.5x /DFPL 0.75x /DFPL 0.5x : DFPL 렌즈 시리즈는 뛰어난 색 재현성과 샘플의 모양을 정확하게 구현합니다.

DFPLAPO 1.25x /DFPLAP01x4 : 색 수차 및 구면 수차를 제거한 가장 높은 성능의 렌즈로 뛰어난 분해능과 contrast, 이미지 평면도와 최소한의 왜곡 등의 특징을 가집니다.

SZX-ACH1.25x /SZX-ACH1x : Long Working Distance와 고분해능을 갖춘 균형잡힌 렌즈입니다.


인체공학적이고 빠른 사용

 

인체공학적으로 편안한 사용 환경

OLYMPUS는 인체공학적인 디자인이 사용자들에게 가장 중요한 요소라고 믿습니다. 따라서, 모든 동작은 사용하기 쉽고 눈이 편안한 접안렌즈, 낮은 위치의 스탠드 등으로 사용하는데 발생할 수 있는 스트레스를 최대한으로 줄였습니다.
SZX2 실체현미경의 고급화된 OLYMPUS Comfort View 접안렌즈는 3D 이미지를 볼 수 있도록 넓은 범위를 한 번에 볼 수 있게하며 장시간 사용시에도 편안함을 가져다 줍니다.
또한 눈의 피로를 줄이며 실체 이미지를 더 쉽게 볼 수 있게 합니다. OLYMPUS는 튜브(헤드) 부분의 각도가 5~45로 조절할 수 있어 다양한 사용자들이 만족하며 사용할 수 있습니다.


자동기능

SZX10 전동 초점 장치는 화장 초점 영상(EFI)와 완벽하게 자동화된 디지털 문서를 만들 수 있습니다. 이러한 기능은 3D 이미지를 만들 수 있으며, 문서상의 이미지와 실제 눈으로 본 이미지의 격차를 줄여줍니다. 자동 검사를 용이하게하기 위해 OLYMPUS STREAM 이미징 소프트웨어 제품군은 간단한 2D 측정부터 복잡한 위상 분석에까지 다양한 환경에 사용하기 쉬운 모든 도구들을 제공합니다.


다양한 종류의 스탠드와 조명 장치

Low-profile LED Illumination Base

OLYMPUS SZX2는 OLYMPUS LED 기반의 특별한 시스템을 갖추고 있어 투과 조명의 미세한 조정으로 밝기와 영상을 컨트롤 하실 수 있습니다. 울트라 슬림의 40mm Base와 함께 SZX2는 가장 인체공학적인 높이의 스테이지를 지원합니다. 게다가 명시야, 암시야,  Oblique 조명의 선택을 회전식 스위치를 통해 쉽게 할 수 있습니다. 긴 수명의 LED는 샘플이나 스테이지에 열을 전달하지 않으며 Material 실체현미경으로써의 유연성을 강화하였습니다.


다양한 종류의 반사형 조명 장치

링 라이트 방식의 조명이나 동축 조명등의 다양한 반사형 조명유닛들의 사용이 가능합니다. 사용자의 어플리케이션에 맞는 최적의 조명 시스템을 선택하실 수 있습니다.


지능적인 디지털 영상

디지털 영상

SZX16과 함께 당신은 샘플의 실시간 디지털 영상을 보여주거나 문서를 제작하고 싶어질 것입니다. OLYMPUS 쿨링 방식의 DP를 같이 사용하여 매우 유용한 이미징 스테이션을 구착할 수 있습니다. 이 것은 빠른 속도의 라이비 영상 관찰 뿐만 아니라 고해상도(1730)만화소까지)의 문서 제작도 가능합니다. 발전된 인터페이스는 샘플이 움직이는 동안에도 색재현성이 뛰어나고 색변화가 자유롭습니다.

OLYMPUS의 정교한 현미경 디지털 카메라 및 이미지 분석 소프트웨어 패키지는 관찰, 리포트 생성, 데이터베이스, 보관 및 SZX16 전동 줌 초점 제어를 포함한 다수를 작업을 지원합니다. OLYMPUS가 디지털 카메라 및 분석 / 측정 소프트웨어의 전체 라인을 제공하며, 고객님의 OLYMPUS 담당자는 사용자의 요구 사항에 맞춰 충족시켜드릴 수 있도록 도와 드릴 것입니다.


Work Comfortably and Productively

Natural Posture, Reduced Stress, and Increased Productivity

The ergonomic long tilting trinocular provides an optimized work position by bringing the microscope closer to the user while the extendable eyepoint adjuster provides flexibility for users of different heights. The SZX series’ ergonomic instruments reduce stress during observation by providing the most comfortable position for each user, increasing work efficiency.


Convergence Angle in Tube Relieves Eyestrain

Olympus research established a correlation between stereo microscope optical systems and eyestrain. Certain convergence angles between the left and right optical paths can cause discomfort. The SZX2 series is designed with a convergence angle that completely compensates for each optical path. This solution effectively eliminates eyestrain, even during prolonged observation.


Ergonomic Zoom and Focus Knobs for Fatigue-free Use

The position of the zoom knob, size and position of the coarse/fine focusing knob, and the fine focus stroke are designed for easy operation. The enhanced fine focus stroke results in easy and precise focusing.


Slim Design Illumination Stand for Easy Access to Samples

Illumination stands are designed to be easy to use and fatigue-free. The slim LED transmitted light illumination stand, at approximately 40 mm in height, features easily adjustable fingertip illumination control and provides easy access to samples.


Specification

Research Stereomicroscope System SZX10 Specifications
Optical System Galilean Optical System
Total Magnification 3.15x-378x*1
Zoom Body Zoom Ratio 10 (0.63x-6.3x)
AS Built-in
Observation Tube Binocular/Trinocular/Tilting Trinocular Observation Tube
Extendable Eyepoint Adjuster SZX2-EEPA
Focus Focusing Unit/Coarse Fine Focusing Unit/Heavy-duty Coarse Fine Focusing Unit/Motorized Focusing Unit
Objective Lens Magnification Type N.A. W.D. (mm) Total Magnification *2 *3 Field Diameter of View (mm)*2 *3
0.5x Plan Achromat 0.05 171 3.2x-31.5x Ø69.8-Ø7
0.75x Plan Achromat 0.075 116 4.7x-47.3x Ø46.6-Ø4.7
1x Plan Apochromat 0.1 81 6.3x-63x Ø34.9-Ø3.5
Achromat 0.1 90 6.3x-63x Ø34.9-Ø3.5
1.25x Plan Apochromat 0.125 60 7.9x-78.9x Ø27.9-Ø2.8
Achromat 0.125 68 7.9x-78.9x Ø27.9-Ø2.8
1.5x Plan Achromat 0.15 45.5 9.5x-94.5x Ø23.3-Ø2.3
2x Plan Achromat 0.2 33.5 12.6x-126x Ø17.5-Ø1.7
Dimensions (W x D x H) 285 mm x 335 mm x 400 mm
Weight 7 kg (in Standard Configularion)
Remark *1 total magnification range possible by combining an objective lens and eyepiece
*2 in the case of using eyepiece 10x
*3 SZX2-LTTR: intermediate magnification is 1.25X, SZX2-ILLC16/10: intermediate magnification is 1.5X